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《DRC项目实战:28nm工艺下金属层密度违例的系统修复》
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DRC项目实战:28nm工艺下金属层密度违例的系统修复
共计 30 章节
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01
课程导论
28nm工艺节点下金属密度规则的重要… · 密度违例对芯片良率与可靠性的影响
课程导论
nm
02
密度规则基础
28nm工艺中金属层(M1-M10)… · 最小密度与最大密度梯度
密度规则基础
nm
03
密度违例类型
全局密度违例 · 局部密度违例 · 密度梯度违例的物理含义与典型场景
密度违例类型
全局密度违例
04
DRC工具与流程
主流DRC工具(Calibre · ICV)在28nm密度检查中的配置与…
DRC
工具
05
密度违例报告解读
如何阅读DRC报告中的密度违例坐标 · 密度值与阈值 · 定位热点区域
密度违例报告解读
DRC
06
填充单元(Fill Cell)原理
标准填充单元 · 去耦电容填充单元的区别与选择策略
Fill
Cell
07
填充规则文件(Rule Deck)解析
28nm工艺中填充规则的关键参数(间… · 宽度 · 密度目标)
Rule
Deck
08
自动填充工具(Metal Fill)介绍
常用EDA工具(如Synopsys… · Cadence Innovus)的自…
Metal
Fill
09
填充策略制定
基于版图密度热力图 · 制定全局填充与局部精细填充的混合策略
填充策略制定
基于版图密度热力…
10
填充优先级排序
如何根据违例严重程度与物理位置(核心… · IO区 · 模拟区)确定修复优先级
填充优先级排序
如何根据违例严重…
11
手动修复技术
针对小面积 · 高密度违例区域的金属dummy手动插…
手动修复技术
针对小面积
12
脚本化修复入门
使用Tcl/Skill脚本批量生成填… · 提高修复效率
脚本化修复入门
Tcl/Skill
13
密度违例与信号完整性
填充金属对耦合电容 · 串扰噪声的影响分析与规避
密度违例
信号完整性
14
密度违例与IR Drop
填充金属对电源网络电流密度的影响及去…
IR
Drop
15
密度违例与天线效应
填充金属在长走线场景下对天线规则的影…
密度违例
天线效应
16
多层金属协同修复
M1至M10不同金属层密度违例的协同… · 避免层间耦合
多层金属协同修复
M1
17
密度违例修复的迭代流程
一次填充后重新DRC检查 · 分析新违例并调整填充参数
密度违例修复的迭…
DRC
18
填充区域划分
基于版图功能模块(数字 · 模拟 · RF
填充区域划分
基于版图功能模块
19
模拟与RF区域的特殊处理
模拟敏感电路对填充金属的寄生效应要求 · 避免填充引入噪声
RF
模拟
20
密度违例修复的时序影响
填充金属增加寄生电容 · 对关键路径时序的补偿方法
密度违例修复的时…
填充金属增加寄生…
21
密度违例修复的功耗影响
填充金属增加动态功耗 · 低功耗设计中的填充优化
密度违例修复的功…
填充金属增加动态…
22
28nm工艺下的密度梯度规则
如何避免因填充导致局部密度突变引发的…
nm
28
23
填充金属的版图设计规则
填充dummy的尺寸 · 间距 · 与有源区/多晶硅的最小间距要求
填充金属的版图设…
dummy
24
自动化修复脚本实战
基于Python/Calibre S…
自动化修复脚本实…
Python/Calib…
25
修复结果验证
修复后版图的DRC clean验证 · LVS验证与寄生参数提取
修复结果验证
DRC
26
密度违例修复的ECO流程
在芯片设计后期(ECO阶段)如何快速…
ECO
密度违例修复的
27
案例实战1
数字逻辑区域M2层全局密度不足的系统…
案例实战1
M2
28
案例实战2
混合信号芯片顶层M5层局部密度过高的…
案例实战2
M5
29
案例实战3
28nm低功耗芯片M1层密度梯度违例…
案例实战3
nm
30
课程总结与最佳实践
密度违例修复的常见陷阱 · 效率提升技巧与行业趋势
课程总结
最佳实践
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