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t22ulp LVDS IP信号完整性故障排查与典型案例

共计 30 章节
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01
LVDS基础与T22ULP IP概述
LVDS标准介绍 · 差分信号原理 · T22ULP工艺节点特点
LVDST22ULP
02
信号完整性基础理论
传输线理论 · 反射与振铃 · 串扰
信号完整性基础理…传输线理论
03
T22ULP LVDS IP电气特性
输出摆幅 · 共模电压 · 差分阻抗
T22ULPLVDS
04
故障排查方法论
SI问题定位流程 · 时域与频域测量工具 · 仿真与实测对比策略
故障排查方法论SI
05
PCB设计对SI的影响
叠层设计 · 阻抗控制 · 走线拓扑
PCBSI
06
典型故障案例一
阻抗不匹配导致的反射与眼图闭合
典型故障案例一阻抗不匹配导致的…
07
典型故障案例二
长走线损耗导致的信号幅度衰减与抖动增…
典型故障案例二长走线损耗导致的…
08
典型故障案例三
串扰耦合导致的码间干扰(ISI)与误…
典型故障案例三ISI
09
典型故障案例四
电源噪声耦合导致的共模电压漂移与抖动
典型故障案例四电源噪声耦合导致…
10
典型故障案例五
地弹效应导致的接收端误触发
典型故障案例五地弹效应导致的接…
11
典型故障案例六
过孔残桩(stub)引起的谐振与信号…
典型故障案例六stub
12
典型故障案例七
连接器与电缆的SI退化问题
典型故障案例七SI
13
典型故障案例八
ESD保护器件寄生电容对高速信号的影…
典型故障案例八ESD
14
典型故障案例九
AC耦合电容选择不当导致的基线漂移
典型故障案例九AC
15
典型故障案例十
时钟抖动与数据抖动叠加导致的时序违规
典型故障案例十时钟抖动
16
仿真技术应用
IBIS模型使用 · HSPICE/ADS仿真设置 · 眼图分析
仿真技术应用IBIS
17
测试与验证技术
示波器测量要点 · TDR/TDT测试 · 误码率测试(BERT)
测试验证技术
18
T22ULP LVDS IP的预加重与均衡技术
预加重原理 · CTLE均衡 · DFE均衡
T22ULPLVDS
19
PCB布局布线指南
差分对布线规则 · 等长控制 · 屏蔽与隔离
PCB布局布线指南
20
封装对SI的影响
封装寄生参数 · BGA焊球效应 · 封装内串扰
SI封装对
21
多通道LVDS的同步开关噪声(SSN)问题。
多通道LVDS的同步开关噪声(SSN)问… · 核心概念 · 实践要点
LVDSSSN
22
温度与工艺角对LVDS SI性能的影响。
温度与工艺角对LVDS SI性能的影响 · 核心概念 · 实践要点
LVDSSI
23
故障排查工具链
SI分析软件 · 自动化测试脚本 · 数据后处理
故障排查工具链SI
24
案例复盘与经验总结
常见设计规则检查(DRC)清单
案例复盘经验总结
25
高速LVDS链路预算方法
从发射机到接收机的完整链路分析
LVDS高速
26
T22ULP LVDS IP的功耗与SI权衡
低功耗模式下的SI挑战
T22ULPLVDS
27
跨时钟域(CDC)与LVDS数据同步问题。
跨时钟域(CDC)与LVDS数据同步问题 · 核心概念 · 实践要点
CDCLVDS
28
LVDS与其它高速接口(如MIPI D-PHY)的SI对比。
LVDS与其它高速接口(如MIPI D-… · 核心概念 · 实践要点
LVDSMIPI
29
未来趋势
T22ULP工艺下更高数据率LVDS…
未来趋势T22ULP
30
综合实战演练
一个完整LVDS链路从设计到故障排除…
综合实战演练LVDS