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037-AI芯片流片实战
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《AI芯片设计问题解决手册》
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AI芯片设计问题解决手册
📚 共计 30 章节
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01
AI芯片设计概述
定义、发展历程与云端推理、边缘计算、自动驾驶等主要应用场景。
基础
全景
02
AI芯片架构基础
冯·诺依曼与哈佛架构、数据流架构、脉动阵列架构详解。
架构
核心
03
AI芯片设计流程
从规格定义到流片,前端设计、后端设计、验证与测试全流程。
流程
工程
04
AI芯片设计工具链
EDA工具概述(Synopsys、Cadence、Mentor)及开源工具链Yosys、OpenROAD。
工具
开源
05
AI芯片设计中的功耗问题
动态/静态功耗、低功耗技术:时钟门控、电源门控、多阈值电压。
功耗
优化
06
AI芯片设计中的时序问题
建立/保持时间、时钟偏斜、时序约束与静态时序分析(STA)。
时序
STA
07
AI芯片设计中的面积问题
面积优化策略、资源共享、逻辑综合优化方法。
面积
综合
08
AI芯片设计中的信号完整性
串扰、电源噪声、电磁干扰(EMI)及信号完整性分析。
SI
噪声
09
可测试性设计(DFT)
扫描链、边界扫描、内建自测试(BIST)方法。
DFT
测试
10
AI芯片设计中的物理设计
布局规划、时钟树综合、布线、物理验证。
物理
后端
11
AI芯片设计中的验证方法
仿真验证、形式验证、FPGA原型验证策略。
验证
仿真
12
AI芯片设计中的存储器设计
SRAM、DRAM、eFlash及新型存储器MRAM、RRAM。
存储
eFlash
13
片上网络(NoC)
NoC拓扑结构、路由算法、流控机制。
互连
NoC
14
模拟与混合信号设计
ADC/DAC设计、PLL设计、电源管理电路。
模拟
混合
15
AI芯片设计中的封装技术
封装类型(BGA、CSP、SiP)、热管理、可靠性。
封装
热
16
测试与良率
晶圆测试、封装测试、良率提升策略。
良率
测试
17
AI芯片设计中的安全设计
硬件木马、侧信道攻击、安全加密引擎。
安全
加密
18
RTL设计
Verilog/VHDL基础、状态机设计、流水线设计。
RTL
编码
19
逻辑综合
综合流程、时序约束、面积与功耗优化。
综合
优化
20
布局布线
布局算法、布线算法、拥塞管理。
布局
布线
21
时钟设计
时钟生成、时钟分配、时钟域交叉(CDC)。
时钟
CDC
22
复位设计
同步/异步复位、复位树、复位去毛刺。
复位
可靠性
23
电源网络设计
电源网格、IR Drop分析、电迁移。
电源
IR Drop
24
ESD保护
ESD模型、保护电路设计、版图设计。
ESD
可靠性
25
工艺选择
先进工艺节点(7nm、5nm、3nm)、FD-SOI、FinFET。
工艺
节点
26
IP复用
IP分类、IP集成、IP验证方法。
IP
复用
27
协同设计
软硬件协同设计、算法与架构协同优化。
协同
软硬件
28
项目管理
设计周期管理、团队协作、版本控制。
管理
流程
29
未来趋势
存算一体、光子计算、量子计算前沿。
前沿
趋势
30
综合案例:AI加速器芯片
从零开始设计一个AI加速器芯片,全流程实战。
实战
综合
所属VIP或分类
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