4. 暗室与测试场地确认

辐射发射测试中，被测设备（EUT）产生的电磁骚扰经空间传播到接收天线，测试场地本身会参与这条传播路径。如果暗室的吸波材料老化、接地不良、反射电平超标，或者转台与天线之间的几何关系偏离标准，测得的场强就可能偏高或偏低，导致误判。因此，在正式测试前对暗室和测试场地进行确认，是保证测量结果可重复、可追溯的前提。本节围绕半电波暗室与全电波暗室的差异、归一化场地衰减（NSA）、场均匀性（FU），以及 R&S 场地验证流程与常见问题展开。

半电波暗室与全电波暗室

半电波暗室（SAC）是在屏蔽室的地面保留金属反射面，其余五面贴装吸波材料。地面作为反射面，使直射波与地面反射波在接收点形成干涉，模拟开阔试验场（OATS）的传播条件。它主要用于 30 MHz～1 GHz 的辐射发射测试，因为该频段的标准限值大多基于 OATS 环境制定。全电波暗室（FAC）则六面均贴装吸波材料，地面不反射，模拟自由空间传播，常用于 1 GHz 以上的辐射发射测试以及辐射抗扰度测试。两者的核心区别在于地面是否反射，这直接决定了接收点场强的计算模型和适用频段。

在实际工程中，SAC 的反射地面通常由金属板拼接而成，接缝处需保持低阻抗连续；吸波材料多为铁氧体瓦加锥形吸波体组合，铁氧体负责低频，锥形吸波体负责高频。FAC 的地面吸波材料需要承受转台和 EUT 的机械载荷，常采用高密度吸波体或架空地板结构。无论哪种暗室，屏蔽体的接地、滤波和通风波导都会影响背景噪声，确认场地时必须先测量背景噪声，确保其低于限值至少 6 dB。

归一化场地衰减 NSA

NSA 是评价 SAC 场地质量的核心指标，定义为理论场地衰减与实测场地衰减之差。理论场地衰减基于自由空间和地面反射的几何模型计算，实测则通过一对天线在指定距离和高度上测量插入损耗得到。标准要求 NSA 偏差在 30 MHz～1 GHz 内不超过 ±4 dB，在 1 GHz～18 GHz 内不超过 ±4 dB（不同标准版本略有差异）。NSA 超标通常意味着地面反射特性异常、吸波材料性能下降或天线位置偏差。

测量 NSA 时，发射天线和接收天线分别置于转台中心和测试距离处，天线高度在 1 m～4 m 范围内扫描，记录每个频点的最大接收电平。以 3 m 法为例，发射天线固定在 1 m 高度，接收天线在 1 m～4 m 升降，取最大值作为实测衰减。理论值则根据天线系数、距离和高度用公式计算。若某频点偏差超过 ±4 dB，需要检查该频点对应的吸波材料、地面平整度或天线极化方向。

场均匀性 FU

场均匀性主要用于辐射抗扰度测试，但在辐射发射场地确认中也有参考价值。FU 要求在规定的校准平面内，场强分布均匀，偏差不超过 0 dB～+6 dB（或按标准规定的容差）。校准平面通常为 1.5 m×1.5 m 的垂直面，划分为 16 个点，用场探头逐点测量。若某点场强偏低，可能是吸波材料局部损坏或发射天线方向图畸变；若偏高，则可能是反射叠加。FU 不合格会导致 EUT 在不同位置受到不同场强，影响测试一致性。

R&S 场地验证流程与常见问题

R&S 的场地验证通常遵循“背景噪声—NSA—FU—系统校验”的顺序。首先在暗室内无 EUT 状态下测量背景噪声，确认各频点低于限值 6 dB 以上；然后按标准布置天线进行 NSA 测量，记录偏差曲线；接着在指定平面进行 FU 测量；最后用已知场强的参考源或校准天线验证接收链路。整个流程中，天线系数、电缆损耗和接收机设置必须与正式测试一致。

常见问题包括：NSA 在低频段偏差大，多因铁氧体瓦拼接缝隙或地面金属板氧化；高频段偏差大，多因锥形吸波体受潮或积尘；FU 某点异常，多因转台或升降塔的金属结构反射；背景噪声偏高，多因屏蔽门密封条老化或电源滤波器失效。排查时可用近场探头定位泄漏点，或分段断开电缆检查接地。每次暗室改造、吸波材料更换或转台维修后，都应重新进行场地确认。

场地确认不是一次性工作。暗室在长期使用中，吸波材料会因温湿度变化、粉尘沉积和机械振动而性能退化；转台和升降塔的金属部件可能因磨损产生新的反射；屏蔽门密封条会老化导致泄漏。建议每 12 个月进行一次完整 NSA 和 FU 复测，每 6 个月检查背景噪声和屏蔽效能。若测试结果出现无法解释的偏差，应优先怀疑场地状态，而不是直接调整 EUT 或接收机设置。