3. 高温存储试验方案设计与实施
任务对象与试验条件确定
本例以某塑封贴片电阻器（标称 10 kΩ ±1%，0603 封装）为受试样品，设计并实施高温存储试验。高温存储属于非工作状态的长期耐热性考核，目的是评估样品在高温环境下长时间放置后，外观与电性能是否发生不可逆退化。
依据常见元器件高温存储试验方法（如 GJB 360 / IEC 60068-2-2 的耐干热试验思路），存储温度通常取样品最高允许存储温度或降额后的考核温度。本例设定：
- 存储温度：125 ℃（样品规格书最高存储温度 155 ℃，取 125 ℃ 作为考核点，留有余量）
- 持续时间：1000 h（约 42 天，属长期存储考核）
- 样品数量：30 只（其中 10 只用于中间检测，20 只用于终检；另留 5 只作为对照组，不投入高温箱）
- 检测节点：0 h（初始）、168 h、500 h、1000 h
样品数量需同时满足“试验组”和“对照组”要求。对照组在常温下保存，用于区分高温导致的退化与自然时效或测量系统漂移。
试验剖面与检测节点
高温存储试验的关键在于“温度—时间”剖面的准确执行，以及在各节点对样品进行外观检查和电性能测量。下图给出本例的试验剖面与检测节点关系，横轴为时间，纵轴为温度，标注了升温、恒温存储、检测取样和恢复阶段。
试验实施关键操作
试验箱使用前需确认其温度偏差与波动度满足要求（可参考前例校准结果）。实施时按以下要点执行：
- 样品预处理：所有样品在常温常湿下放置 24 h，测量初始阻值并记录，外观拍照存档。
- 装样：样品置于耐高温托盘上，互不重叠，距箱壁≥50 mm，保证热风循环通畅。对照组留在常温干燥器中。
- 升温与恒温：箱体升温至 125 ℃，待箱内温度稳定后开始计时。恒温期间每 2 h 记录一次箱内温度，确认波动在 ±2 ℃ 内。
- 中间检测：在 168 h 和 500 h 节点，取出 5 只样品，在常温下恢复 2 h 后测量阻值并检查外观，样品不再放回。
- 终检：1000 h 后取出剩余样品，恢复 2 h，测量阻值、外观，并抽 5 只做可焊性测试。
取样检测时箱门开启会导致温度波动，应尽量缩短开门时间，并在取样后等待箱温重新稳定再继续计时。
数据记录与结果判读
下表为教学示例数据（非实测），用于说明记录格式与判读方法。阻值变化率按 (Rt − R0)/R0 × 100% 计算。
| 检测节点 | 样品数 | 阻值变化率范围 | 外观检查 | 判读 |
|---|---|---|---|---|
| 初始 0 h | 30 | 基准值 | 无异常 | — |
| 168 h | 5 | +0.05% ~ +0.12% | 无裂纹、无变色 | 正常 |
| 500 h | 5 | +0.08% ~ +0.18% | 无裂纹、无变色 | 正常 |
| 1000 h | 20 | +0.10% ~ +0.25% | 无裂纹、无变色、无起泡 | 合格 |
| 对照组 1000 h | 5 | +0.02% ~ +0.06% | 无异常 | 参考 |
判读依据：若阻值变化率超过 ±1%（或产品规范规定值），或出现裂纹、起泡、变色等外观缺陷，则判为不合格。本例示例数据中，试验组最大变化率 +0.25%，外观无缺陷，判定为通过。对照组变化率明显小于试验组，说明阻值漂移主要来自高温存储而非测量系统。
本例交付要点：确定 125 ℃ / 1000 h 的存储条件与 30+5 只样品分配；按 0/168/500/1000 h 节点完成外观与阻值检测；以阻值变化率 ≤±1% 且无外观缺陷作为通过判据；对照组用于排除测量漂移。