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《良率算法实战:基于SPC数据的良率趋势预测与模型部署》
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良率算法实战:基于SPC数据的良率趋势预测与模型部署
共计 30 章节
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01
课程导论与行业背景
半导体制造流程简介 · 良率定义与重要性 · SPC(统计过程控制)基础概念
课程导论
行业背景
02
SPC数据采集与预处理
数据采集系统(EDA/FDC)介绍 · 数据清洗(缺失值 · 异常值处理)
SPC
数据采集
03
关键质量参数(KQ)与关键工艺参数(KPP)识别
相关性分析 · 主成分分析(PCA)降维 · 特征选择方法(Filter/Wrap…
KQ
KPP
04
良率指标定义与计算
晶圆良率(Die Yield) · 封装良率(Assembly Yiel… · 测试良率(Test Yield)
良率指标定义
计算
05
时间序列分析基础
平稳性检验(ADF检验) · 自相关函数(ACF)与偏自相关函数(… · 差分操作
时间序列分析基础
ADF
06
ARIMA模型原理与实现
AR · MA · ARIMA模型数学原理
ARIMA
模型原理
07
季节性ARIMA(SARIMA)模型
季节性周期识别 · SARIMA参数配置 · 季节性差分
ARIMA
SARIMA
08
Prophet模型原理与实战
Facebook Prophet模型… · 季节 · 节假日效应)
Prophet
模型原理
09
长短期记忆网络(LSTM)基础
循环神经网络(RNN)原理 · LSTM门控机制(遗忘门 · 输入门
LSTM
长短期记忆网络
10
LSTM良率预测实战
时间步长选择 · 滑动窗口数据构造 · 多步预测策略(递归/直接/多输出)
LSTM
良率预测实战
11
CNN与时间序列
一维卷积神经网络(1D-CNN)原理 · 因果卷积(Causal Convol… · TCN(时间卷积网络)结构
CNN
时间序列
12
Transformer与时间序列
自注意力机制 · 位置编码 · Informer/Reformer等…
Transformer
时间序列
13
多变量时间序列预测
多变量输入(多KPP)预测单变量良率 · 多变量输出预测多站点良率 · 向量自回归(VAR)模型
多变量时间序列预…
KPP
14
异常检测与良率预警
基于统计的异常检测(3-Sigma · IQR) · 基于模型的残差分析
异常检测
良率预警
15
特征工程进阶
滞后特征(Lag Features) · 滚动窗口统计特征(均值 · 方差
特征工程进阶
Lag
16
模型评估与选择
回归指标(MAE · RMSE · MAPE
模型评估
选择
17
集成学习与堆叠模型
Bagging(随机森林) · Boosting(XGBoost · LightGBM)
集成学习
堆叠模型
18
贝叶斯优化与超参数调优
网格搜索 · 随机搜索 · 贝叶斯优化原理(高斯过程
贝叶斯优化
超参数调优
19
模型可解释性(XAI)
SHAP值计算与可视化 · LIME局部解释 · 特征重要性排序
XAI
模型可解释性
20
模型部署架构设计
离线训练与在线推理架构 · 微服务(Flask/FastAPI) · 消息队列(Kafka/RabbitM…
模型部署架构设计
离线训练
21
模型序列化与版本管理
ONNX格式转换 · TensorFlow Serving · MLflow模型注册与版本控制
模型序列化
版本管理
22
实时数据管道构建
Apache Kafka数据流接入 · Spark Streaming/Fl… · 特征存储(Feast)与模型服务联动
实时数据管道构建
Apache
23
A/B测试与模型灰度发布
在线A/B测试设计 · 流量切分策略 · 模型回滚机制
A/B
测试
24
模型监控与漂移检测
数据漂移(Data Drift)检测… · KS检验) · 概念漂移(Concept Drift…
模型监控
漂移检测
25
良率预测系统全栈实战(上)
需求分析 · 系统架构设计(数据层 · 特征层
良率预测系统全栈…
需求分析
26
良率预测系统全栈实战(中)
后端API开发(FastAPI) · 前端可视化(Plotly Dash/… · 实时仪表盘设计
良率预测系统全栈…
API
27
良率预测系统全栈实战(下)
端到端流水线集成 · CI/CD(GitLab CI/Je… · 自动化测试
良率预测系统全栈…
端到端流水线集成
28
案例研究
晶圆厂良率提升实战 · 问题定义 · 特征工程
案例研究
晶圆厂良率提升实…
29
前沿趋势与研究方向
联邦学习在良率预测中的应用 · 生成式AI(扩散模型)合成良率数据 · 强化学习用于工艺参数优化
前沿趋势
研究方向
30
课程总结与职业发展
知识体系回顾 · 常见面试题解析 · 推荐学习资源(书籍
课程总结
职业发展
所属VIP或分类
同VIP:良率参数分析:CVD薄膜均匀性与良率模型构建实践
同VIP:良率参数调优:CMP工艺关键参数与良率相关性分析
同VIP:良率失效分析:SEM-EDS与电性测试联合诊断