VIP20
本课程属于：040-半导体良率核心技能 半导体工艺与制造设备 · 共 20 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

良率失效分析：SEM EDS与电性测试联合诊断

共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域
01
课程导论
良率失效分析的重要性 · SEM/EDS与电性测试联合诊断的价… · 课程目标与学习路径
课程导论良率失效分析的重…
02
半导体制造与良率基础
晶圆制造流程简介 · 良率定义与计算 · 良率损失分类（系统性/随机性）
半导体制造良率基础
03
失效分析基础
失效模式与机理 · 失效分析流程（非破坏性→半破坏性→破… · 分析计划制定
失效分析基础失效模式
04
扫描电子显微镜（SEM）原理
电子束与样品相互作用 · 二次电子与背散射电子成像 · SEM基本结构与工作模式
SEM扫描电子显微镜
05
能谱分析（EDS）原理
特征X射线产生 · EDS探测器与能谱解析 · 定性定量分析基础
EDS能谱分析
06
电性测试基础
晶圆级测试（WAT/CP） · 封装级测试（FT） · 关键电性参数（Idsat
电性测试基础WAT/CP
07
电性测试数据异常模式
良率Bin分布分析 · 参数分布图（SPC） · 电性失效模式与物理缺陷关联
电性测试数据异常…Bin
08
SEM/EDS样品制备
聚焦离子束（FIB）切割 · 机械研磨 · 染色与去层技术
SEM/EDS样品制备
09
SEM成像技巧
低电压成像 · 电荷效应消除 · 高分辨率成像参数优化
SEM成像技巧
10
EDS能谱分析技巧
点分析 · 线扫描 · 面分布（Mapping）
EDS能谱分析技巧
11
电性测试与SEM/EDS联合诊断策略
从电性异常到物理缺陷的追溯路径 · 假设驱动分析
SEM/EDS电性测试
12
案例1
接触电阻失效（高Rs）——SEM观察… · EDS检测界面污染
案例1Rs
13
案例2
栅氧化层击穿（GOI）——SEM观察… · EDS分析击穿点元素异常
案例2GOI
14
案例3
金属互连短路/断路——SEM观察金属… · EDS分析残留物或腐蚀产物
案例3SEM
15
案例4
通孔（Via）空洞失效——SEM截面… · EDS确认填充材料缺失
案例4Via
16
案例5
离子注入异常导致的阈值电压（Vt）漂… · EDS无法直接检测掺杂元素（局限性）
案例5Vt
17
案例6
层间介质（ILD）裂纹与分层——SE… · EDS分析分层界面元素分布
案例6ILD
18
案例7
ESD/EOS损伤——SEM观察熔融… · EDS分析金属迁移与氧化
案例7ESD/EOS
19
案例8
腐蚀与污染失效——SEM观察腐蚀坑/… · EDS识别污染元素（Na · Cl
案例8SEM
20
数据关联分析
电性测试数据与SEM/EDS图像/谱… · 坐标转换与标记
数据关联分析SEM/EDS
21
自动化与大数据分析
SEM/EDS自动缺陷分类（ADC） · 电性测试数据挖掘 · 联合分析平台
自动化大数据分析
22
失效分析报告撰写
报告结构 · 关键数据呈现（电性图 · SEM图
失效分析报告撰写报告结构
23
SEM/EDS仪器维护与校准
真空系统 · 灯丝/电子枪 · 探测器维护
SEM/EDS仪器维护
24
电性测试系统校准与验证
探针台校准 · 测试程序验证 · 标准样品比对
电性测试系统校准验证
25
先进SEM技术
环境SEM（ESEM） · 双束系统（FIB-SEM） · 电子束诱导电流（EBIC）
SEM先进
26
先进EDS技术
硅漂移探测器（SDD） · 高计数率分析 · 低能X射线检测
EDS先进
27
电性测试先进技术
阵列测试 · 存储器测试 · 射频（RF）测试
电性测试先进技术阵列测试
28
联合诊断中的常见陷阱与误区
样品制备假象 · 电子束损伤 · EDS定量误差
联合诊断常见陷阱
29
综合实战演练
给定一组电性测试失效数据与SEM/E… · 制定分析计划并模拟诊断
综合实战演练SEM/E
30
课程总结与未来展望
技术发展趋势（AI辅助分析 · 在线监测） · 职业发展路径
课程总结未来展望