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半导体工艺与制造设备
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040-半导体良率核心技能
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《良率工具组合:JMP数据清洗与Minitab模型验证实践》
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本课程属于:040-半导体良率核心技能
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良率工具组合:JMP数据清洗与Minitab模型验证实践
共计 30 章节
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01
课程导论
良率管理在半导体/制造业中的重要性 · JMP与Minitab工具组合的优势 · 课程目标与学习路径
课程导论
良率管理
02
JMP基础操作
JMP界面介绍 · 数据表结构 · 列属性设置
JMP
基础操作
03
数据导入与导出
JMP支持的文件格式(CSV · Excel · TXT
数据导入
导出
04
数据清洗基础
缺失值识别与处理(删除 · 插补 · 标记)
数据清洗基础
缺失值识别
05
数据筛选与排序
行状态与条件筛选 · 数据排序与子集创建 · 使用公式列进行数据标记
数据筛选
排序
06
数据合并与拆分
表连接(Join) · 追加(Concatenate) · 拆分(Split)与堆叠(Stack…
数据合并
拆分
07
数据转换与派生
公式编辑器使用 · 常用函数(If · Match
数据转换
派生
08
文本与日期清洗
文本列清洗(Trim · Uppercase · Substr)
文本
日期清洗
09
JMP数据清洗实战案例
真实半导体良率数据清洗流程演示 · 从原始数据到分析就绪数据集
JMP
数据清洗实战案例
10
JMP数据清洗最佳实践
数据清洗脚本化(JSL基础) · 数据验证规则建立 · 清洗流程文档化
JMP
数据清洗最佳实践
11
Minitab基础操作
Minitab界面介绍 · 工作表与项目结构 · 基本统计与图形菜单
Minitab
基础操作
12
Minitab数据管理
数据导入 · 列属性设置 · 数据编码与值标签
Minitab
数据管理
13
描述性统计与图形
直方图 · 箱线图 · 概率图
描述性统计
图形
14
假设检验基础
单样本t检验 · 双样本t检验 · 配对t检验
假设检验基础
单样本t检验
15
方差分析(ANOVA)
单因子ANOVA · 多因子ANOVA · 分析工艺参数对良率的影响
ANOVA
方差分析
16
相关与回归分析
Pearson相关 · 简单线性回归 · 多元线性回归
相关
回归分析
17
二元逻辑回归
良率(Pass/Fail)建模 · 模型系数解释 · 概率预测与分类阈值
二元逻辑回归
Pass/Fail
18
DOE基础
因子设计 · 部分因子设计 · 响应曲面设计
DOE
因子设计
19
DOE分析
效应图 · Pareto图 · 主效应图
DOE
分析
20
控制图基础
I-MR图 · Xbar-R图 · P图
控制图基础
I-MR
21
过程能力分析
Cp · Cpk · Pp
过程能力分析
Cp
22
测量系统分析(MSA)
量具R&R(交叉与嵌套) · 属性一致性分析 · 确保良率数据可靠性
MSA
测量系统分析
23
Minitab模型验证实战案例
使用Minitab对JMP清洗后的数… · 比较模型性能
Minitab
模型验证实战案例
24
JMP与Minitab协同工作流程
数据在JMP中清洗 · 导出至Minitab进行建模与验证 · 结果回传JMP可视化
JMP
Minitab
25
JSL脚本进阶
自动化数据清洗流程 · 参数化脚本设计 · 脚本调试与错误处理
JSL
脚本进阶
26
Minitab宏与自动化
Minitab宏基础 · 创建自动化分析模板 · 批量处理多个数据集
Minitab
自动化
27
良率报告自动化
使用JMP生成动态仪表盘 · 结合Minitab分析结果 · 输出PDF/HTML报告
良率报告自动化
JMP
28
综合案例1
从Fab数据到良率模型:JMP清洗 · Minitab建模 · 模型验证与部署全流程
综合案例1
Fab
29
综合案例2
工艺改进项目:使用DOE与回归分析 · 通过JMP与Minitab组合工具实…
综合案例2
DOE
30
课程总结与进阶路径
核心知识点回顾 · 常见问题与解决方案 · 推荐学习资源与认证路径
课程总结
进阶路径
所属VIP或分类
同VIP:良率参数分析:CVD薄膜均匀性与良率模型构建实践
同VIP:良率参数调优:CMP工艺关键参数与良率相关性分析
同VIP:良率失效分析:SEM-EDS与电性测试联合诊断