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先进CMOS工艺漏电流抑制与ESD防护的协同设计案例

共计 30 章节
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01
课程导论
漏电流与ESD防护的矛盾与协同设计理…
课程导论ESD
02
先进CMOS工艺节点下的漏电流机制
亚阈值 · 栅极 · GIDL
CMOS先进
03
ESD防护基础
HBM · CDM · MM模型与失效机理
ESD防护基础
04
协同设计挑战
工艺缩进对漏电与ESD窗口的影响
协同设计挑战ESD
05
低漏电ESD器件结构
GGNMOS · GCNMOS · SCR
ESD低漏电
06
堆叠MOSFET技术
多栅堆叠降低漏电与维持ESD鲁棒性
MOSFET堆叠
07
反向偏置技术
衬底偏置与阱偏置对漏电与触发电压的权…
反向偏置技术衬底偏置
08
栅极工程
高k金属栅极对漏电与ESD性能的影响
栅极工程ESD
09
SOI与FinFET工艺中的漏电与ESD协同优化。
SOI与FinFET工艺中的漏电与ESD… · 核心概念 · 实践要点
SOIFinFET
10
动态阈值MOSFET (DTMOS) 在ESD中的应用。
动态阈值MOSFET (DTMOS) 在… · 核心概念 · 实践要点
MOSFETDTMOS
11
RC触发有源钳位电路
低漏电设计与快速响应
RC触发有源钳位电路
12
基于BJT的ESD防护结构
寄生BJT触发与漏电抑制
BJTESD
13
二极管串与齐纳二极管
低漏电钳位方案
二极管串齐纳二极管
14
混合模式仿真方法
漏电与ESD瞬态协同仿真流程
混合模式仿真方法ESD
15
TCAD仿真案例
漏电流与TLP曲线联合分析
TCAD仿真案例
16
版图布局技术
多指结构 · 镇流电阻与漏电均匀性
版图布局技术多指结构
17
工艺波动性分析
PVT对漏电与ESD阈值的影响
工艺波动性分析PVT
18
温度效应
高温漏电与ESD鲁棒性的退化与补偿
温度效应ESD
19
电源域隔离技术
电平转换器与ESD总线设计
电源域隔离技术ESD
20
I/O接口协同设计
输出驱动强度与ESD窗口匹配
I/O接口协同设计
21
射频电路中的漏电与ESD
低寄生电容防护方案
ESD射频电路
22
超低功耗设计
近阈值电压下的漏电与ESD权衡
超低功耗设计ESD
23
新型材料
III-V族 · 2D材料在漏电与ESD中的前景
新型材料III-V
24
机器学习辅助优化
预测漏电与ESD性能的代理模型
机器学习辅助优化ESD
25
设计实例1
28nm CMOS工艺I/O库的协同…
设计实例1nm
26
设计实例2
7nm FinFET工艺SRAM的E…
设计实例2nm
27
设计实例3
高压BCD工艺中LDMOS的漏电与E…
设计实例3BCD
28
测试与表征
TLP测试 · 漏电流测量与失效分析
测试表征
29
可靠性评估
ESD应力后漏电流退化与寿命预测
可靠性评估ESD
30
课程总结与未来趋势
先进节点下协同设计方法论
课程总结未来趋势