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光子技术_硅光与光通信工程
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006-硅光封装与CPO共封装光学工程
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《硅光封装量产装调与良率控制》
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本课程属于:006-硅光封装与CPO共封装光学工程
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硅光封装量产装调与良率控制
共计 30 章节
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01
硅光封装量产导入
目标=从研发样品到量产封装的转化流程 · 关键节点与常见风险
硅光封装量产导入
目标=从研发样品…
02
硅光芯片与封装界面
目标=光栅耦合器 · 模斑转换器 · 边缘耦合器的封装适配要求与设计规则
硅光芯片
封装界面
03
封装材料体系
目标=光学胶 · 底部填充胶 · 热界面材料
封装材料体系
目标=光学胶
04
光纤阵列与硅光芯片的耦合对准
目标=主动对准 · 被动对准 · 自对准技术的量产适用性对比
光纤阵列
硅光芯片的耦合对…
05
耦合对准算法与搜索策略
目标=爬山法 · 扫描法 · 图像辅助对准在量产设备中的实现与优化
耦合对准算法
搜索策略
06
贴片工艺与位置精度控制
目标=固晶机精度 · 贴片力 · 固化收缩对耦合效率的影响与补偿
贴片工艺
位置精度控制
07
引线键合与倒装焊在硅光封装中的选择
目标=电学互连 · 热学路径与光学干扰的权衡
引线键合
倒装焊
08
硅光封装中的热管理
目标=热光效应 · 波长漂移 · 热串扰的量化评估与散热结构设计
硅光封装
热管理
09
封装应力与光学性能
目标=应力双折射 · 波导折射率变化 · 耦合失配的机理与抑制方法
封装应力
光学性能
10
封装工艺中的洁净度与颗粒控制
目标=污染来源 · 检测方法 · 对良率的影响与防控措施
封装工艺
洁净度
11
硅光封装量产装调设备
目标=耦合台 · 固晶机 · 键合机
硅光封装量产装调…
目标=耦合台
12
装调工艺参数优化
目标=固化温度曲线 · 对准时间 · 点胶量
装调工艺参数优化
目标=固化温度曲…
13
在线光学检测与耦合监控
目标=功率监测 · 光谱监测 · 视觉检测在装调过程中的集成
线光学检测
耦合监控
14
硅光封装中的电学测试
目标=直流 · 射频 · 高速信号测试的探针台与测试夹具设计
硅光封装
电学测试
15
封装后光学测试
目标=插入损耗 · 回波损耗 · 偏振相关损耗
封装后光学测试
目标=插入损耗
16
良率定义与数据采集
目标=硅光封装良率指标 · 测试数据管理 · MES系统与追溯体系
良率定义
数据采集
17
良率损失分析
目标=从耦合 · 贴片 · 键合
良率损失分析
目标=从耦合
18
统计过程控制与良率监控
目标=控制图 · CPK · 趋势分析在硅光封装量产中的应用
统计过程控制
良率监控
19
失效模式与影响分析
目标=硅光封装FMEA的建立 · 高风险项识别与预防措施
失效模式
影响分析
20
常见失效案例与根因分析
目标=耦合偏移 · 胶层空洞 · 金线断裂
常见失效案例
根因分析
21
硅光封装可靠性测试
目标=高温存储 · 温度循环 · 湿热
硅光封装可靠性测…
目标=高温存储
22
量产装调中的自动化与智能化
目标=机器人上下料 · 自动对准 · AI缺陷检测的落地实践
量产装调
自动化
23
硅光封装产线布局与节拍设计
目标=工位划分 · 物流路径 · 设备利用率与产能爬坡
硅光封装产线布局
节拍设计
24
封装良率提升的工艺改进
目标=从DOE到SPC的闭环优化 · 工艺窗口收紧与稳健设计
封装良率提升的工…
DOE
25
硅光封装中的测试覆盖率与测试成本
目标=测试项优化 · 并行测试 · 测试时间压缩策略
硅光封装
测试覆盖率
26
封装良率与成本模型
目标=良率损失成本 · 返修成本 · 报废成本与整体经济效益分析
封装良率
成本模型
27
硅光封装量产中的标准与规范
目标=行业标准 · 客户规范 · 内部工艺规范的制定与执行
硅光封装量产
标准
28
供应链与来料质量控制
目标=芯片 · 光纤阵列 · 基板
供应链
来料质量控制
29
硅光封装量产案例
目标=400G/800G光模块封装装…
硅光封装量产案例
G/800G
30
课程总结与持续改进
目标=知识体系回顾 · 良率控制方法论 · 未来技术趋势与学习路径
课程总结
持续改进
所属VIP或分类
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同VIP:CPO光引擎与交换ASIC协同设计
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