3. EVT阶段RICE评分标准定标：各要素评分尺度、典型数值参考、跨项目对齐规则

适用场景

• 团队完成EVT样机首批验证，获得初步测试数据后，需要对样机暴露的问题进行优先级排序时。
• 多个项目组并行开发，需要统一RICE评分口径，避免因主观偏离导致资源分配不公平。
• 首次将RICE方法论引入硬件研发流程的团队，需要建立可复用的评分基线。

前置条件

• 已完成EVT阶段问题清单的汇总与去重，每个问题具有唯一的ID和清晰描述。
• 各功能负责人已提供问题的初步影响评估（定性描述），包括影响范围、用户感知、修复难度等。
• 已确定跨项目对齐的评审委员会成员名单，至少包含项目经理、系统架构师、测试负责人、生产代表各一名。
• 已准备统一的评分模板（如在线表格或团队协作平台的应用）。

操作步骤

1. 定义R（Reach）评分尺度：按受影响用户或模块数量分级。EVT阶段通常以“功能模块数”和“涉及项目数”为代理指标。

   分数	定义	典型数值参考
   1	仅影响单个功能模块，且该模块在EVT中无外部依赖	单模块异常，如一个传感器采集错误
   2	影响2~3个功能模块，或影响1个核心功能	通信协议解析错误导致交互异常
   3	影响4个及以上模块，或影响安全/法规相关功能	电源管理芯片异常导致整机无法启动

2. 定义I（Impact）评分尺度：按问题对产品指标、用户体验或生产制造的严重程度分级。

   分数	定义	典型数值参考
   1	功能外观异常但不影响主流程，用户可规避	指示灯颜色错误
   2	主功能降级，用户需绕行操作，可接受短期内人工干预	蓝牙连接不稳定，需手动重连
   3	主功能完全失效，或存在安全/合规风险，必须DVT前修复	电池过温保护误触发导致关机

3. 定义C（Confidence）评分尺度：按问题复现率、根因清晰度、初步对策明确性分级。

   分数	定义	典型数值参考
   1	低置信度：仅出现过1次，无法稳定复现，根因无线索	偶发静电放电导致的系统挂死
   2	中置信度：可间歇复现，或已知某个变量但未确认根因	高低温循环下5%概率连接失败
   3	高置信度：稳定复现，已定位到具体元器件或代码段，有临时对策	电源噪声导致ADC读数偏差，已通过示波器确认

4. 定义E（Effort）评分尺度：按预估修复所需人天和依赖的硬件改版次数分级。

   分数	定义	典型数值参考
   1	极高努力：需PCB改版或重新流片，预计>20人天	更换主芯片平台
   2	中高努力：需改Firmware或换料验证，预计5~20人天	调整天线匹配网络
   3	低努力：软件参数调整或单个物料替换，预计<5人天	修改LED驱动电流电阻值

5. 跨项目对齐规则：所有项目的R、I、C、E评分必须在同一参照系下进行。
   • R评分：统一使用“EVT基准功能模块清单”作为计数分母，新增模块需评审委员会确认权值。
   • I评分：安全相关、法规相关、关键性能指标（如电池寿命、通信达标率）必须取最高档3分，不得降级。
   • C评分：最低置信度不得为0，至少为1。若问题已被临时方案掩盖且无法复现，按1分计。
   • E评分：需由硬件工程师、测试工程师与生产工程师共同估算，取三人估算的中间值，避免单方偏差。
   • 最终得分 = R × I × C / E（结果向上取整）。所有项目的RICE分需保留两位小数，评审会后统一公布。

输入输出物

责任边界

• 项目经理：组织定标会议，确保跨项目规则一致性，仲裁争议。
• 系统架构师：确认I评分中对安全/法规的判定，提供模块影响范围建议（支持R评分）。
• 测试负责人：提供C评分所用的复现率数据与测试记录。
• 生产代表 / 硬件工程师：提供E评分所需的物料变更、PCB改版、产线调整等成本估算。
• 各功能负责人：完成自己负责问题的R/I/C/E初评分，并提供佐证材料供委员会校准。

记录材料

• RICE评分定标会议签到表
• 每个问题的R/I/C/E评分佐证文件（lab数据截图、示波器波形、电气参数表等）
• 跨项目校准后的评分基准版本（以Excel或在线表格存档，标记时间戳）
• 变更记录：若后续出现新证据需调整评分，必须记录变更原因、日期与审批人

异常处理

验收标准

• 每个EVT问题均获得完整的R、I、C、E评分及最终得分，无空缺项。
• 评分满足跨项目对齐规则中所有的强制条件（如安全相关I=3、C≥1等）。
• 评分结果经评审委员会全体签字确认，会议纪要归档。
• 评分结果在团队内公示后24小时内无升级投诉，或投诉已解决并更新评分。