2、图像传感器(Sensor)基础:CCD与CMOS传感器原理对比、关键光电参数、Sensor输出接口

2.1 CCD 与 CMOS 传感器原理对比

图像传感器是摄像系统的“视网膜”,其核心任务是将光信号转换为电信号。当前主流传感器分为 CCD(电荷耦合器件)和 CMOS(互补金属氧化物半导体)两大阵营。两者在读出架构、功耗、噪声和集成度上存在本质差异。

核心差异速览: CCD 采用全局快门和电荷逐行转移,像素一致性高但功耗大;CMOS 采用每个像素独立放大和行列寻址读出,集成度高、功耗低,但存在固定模式噪声(FPN)。

2.1.1 CCD 传感器工作原理

  • 光电转换: 入射光子激发硅衬底产生电子-空穴对,电子被收集在像素势阱中。
  • 电荷转移: 通过多相时钟驱动,势阱中的电荷包逐行、逐列向读出寄存器转移。
  • 电荷-电压转换: 在输出端通过浮置扩散电容(FD)将电荷转换为电压,再经放大器输出。
  • 特点: 电荷转移效率极高(>99.999%),像素一致性优异,但需要多路高压时钟,功耗大,难以集成逻辑电路。

2.1.2 CMOS 传感器工作原理

  • 光电转换: 与 CCD 相同,光子产生电子-空穴对,电子存储在光电二极管(PD)中。
  • 像素内放大: 每个像素包含一个源极跟随器(SF)放大器,将电荷信号转换为电压信号。
  • 行列寻址读出: 通过行选(RS)和列选(CS)开关,逐行将像素电压读出到列并行 ADC。
  • 特点: 单电源供电,功耗低,可集成 ISP、ADC、时序控制等逻辑,但像素间存在增益和偏移失配,产生 FPN。
海思平台选型提示: 海思 ISP 内置了强大的 FPN 校正模块(DPC 和 LSC),可有效补偿 CMOS 传感器的固定模式噪声。因此,在安防和车载领域,CMOS 传感器已成为主流。
CCD 与 CMOS 传感器读出架构对比 CCD 架构 像素阵列(光电转换 + 电荷存储) 垂直 CCD 转移寄存器 (多相时钟驱动) 水平 CCD 读出寄存器 输出放大器 CMOS 架构 像素阵列(PD + SF + RS) 每个像素内含放大器 行选开关控制读出 列并行 ADC 阵列 数字逻辑(ISP / 时序控制) CCD 像素/转移 CMOS 像素 ADC 数字逻辑

2.1.3 CCD vs CMOS 关键特性对比表

对比维度CCDCMOS
读出方式电荷逐行/逐列转移行列寻址,像素内放大
功耗高(多相高压时钟)低(单电源,静态功耗低)
像素一致性极高(电荷转移效率高)较低(存在 FPN)
集成度低(需外部驱动/ADC)高(可集成 ISP/ADC/时序)
读出速度较慢(串行读出)快(列并行读出)
动态范围高(典型 70-85 dB)中高(典型 60-75 dB,HDR 可达 120 dB)
暗电流低(工艺成熟)较高(像素内放大器贡献)
成本高(特殊工艺)低(标准 CMOS 工艺)
海思平台适用性较少使用(需外接 AFE)主流选择(直接对接 MIPI/LVDS)
避坑指南: 在海思项目中,若误选 CCD 传感器,需额外增加 AFE(模拟前端)芯片进行相关双采样(CDS)和增益控制,会显著增加 BOM 成本和调试复杂度。除非特殊需求(如科学级低噪声成像),否则优先选择 CMOS。

2.2 关键光电参数

传感器选型时,必须深入理解以下三个核心光电参数,它们直接决定了图像的亮度、信噪比和动态范围。

2.2.1 量子效率(QE)

定义: 入射光子转换为电子的概率,即收集到的电子数与入射光子数之比,通常以百分比表示。

  • 公式: QE(λ) = (收集电子数) / (入射光子数) × 100%
  • 光谱响应: QE 随波长变化,典型 CMOS 传感器在 550nm(绿光)处 QE 最高(50%-70%),近红外(850nm/940nm)处 QE 较低(10%-30%)。
  • 海思调试影响: QE 直接影响 AEC(自动曝光控制)的增益分配。低 QE 传感器需要更高模拟增益,导致噪声放大。

2.2.2 满阱容量(FWC)

定义: 单个像素势阱所能容纳的最大电子数,单位通常为 e⁻(电子数)。

  • 意义: 决定传感器的最大信噪比(SNR_max = 20log₁₀(√FWC))和动态范围。
  • 典型值: 2.8μm 像素 FWC 约 8000-12000 e⁻;大像素(5μm)可达 30000 e⁻ 以上。
  • 海思调试影响: FWC 与 ISP 的 HDR(高动态范围)合成策略相关。小 FWC 传感器需启用多曝光 HDR 模式。

2.2.3 暗电流(Dark Current)

定义: 无光照条件下,因热激发产生的电子-空穴对形成的电流,单位通常为 e⁻/s/pixel 或 pA/cm²。

  • 温度敏感性: 温度每升高 6-8°C,暗电流约翻倍。
  • 影响: 产生暗电流噪声(散粒噪声),限制长曝光时间下的信噪比。
  • 海思调试影响: ISP 的暗电平校正(Black Level Correction, BLC)模块用于扣除暗电流偏置。高温场景需动态调整 BLC 目标值。
选型经验公式: 动态范围 DR = 20log₁₀(FWC / √(暗电流噪声² + 读出噪声²))。在低照度场景,优先选择 QE 高、暗电流低的传感器;在高亮场景,优先选择 FWC 大的传感器。
传感器光电参数对图像质量的影响 光电参数 量子效率 (QE) 满阱容量 (FWC) 暗电流 低照度 SNR AEC 增益分配 动态范围 HDR 策略 高亮细节 暗电平校正 长曝光噪声 QE 和 FWC 共同决定基础 SNR,暗电流限制低照度性能

2.3 Sensor 输出接口

传感器输出的原始图像数据需通过高速串行接口传输到 ISP(海思芯片)。接口选型直接影响 PCB 布局难度、传输距离和最大带宽。

2.3.1 MIPI CSI-2 接口

  • 标准: MIPI 联盟定义的摄像头串行接口,使用差分信号对(D-PHY 或 C-PHY)。
  • 特点:
    • D-PHY:1 对时钟 + 1-4 对数据 Lane,每 Lane 速率最高 2.5 Gbps(D-PHY v2.0)。
    • C-PHY:无专用时钟,3 线差分传输,每通道速率更高。
    • 低功耗、小封装,适合移动和安防设备。
  • 海思平台: 海思 Hi35xx/Hi3519 等系列支持多路 MIPI CSI-2 输入,最大支持 4 Lane 或 8 Lane 配置。

2.3.2 LVDS 接口

  • 标准: 低压差分信号,传统用于高速数据传输。
  • 特点:
    • 一对差分线传输一路数据,典型速率 1-3 Gbps。
    • 抗干扰能力强,传输距离可达数米。
    • 常用于工业相机和车载摄像头。
  • 海思平台: 部分海思芯片(如 Hi3559)支持 LVDS 输入,需配置为同步模式。

2.3.3 Sub-LVDS 接口

  • 标准: LVDS 的低功耗变种,摆幅更低(约 200mV vs LVDS 350mV)。
  • 特点:
    • 功耗更低,适合电池供电设备。
    • 与 MIPI D-PHY 电气特性接近,但协议不同。
    • 常见于老款或特定传感器。
  • 海思平台: 需确认芯片是否支持 Sub-LVDS 模式,通常需配置寄存器切换电气标准。
海思调试经验: 在 Hi3516DV300 项目中,MIPI 接口的 D-PHY 预加重(Pre-emphasis)和均衡(Equalization)参数需根据 PCB 走线长度调整。走线超过 10cm 时,建议开启预加重以降低码间干扰(ISI)。

2.3.4 接口对比表

接口类型差分对数典型速率功耗传输距离海思支持
MIPI D-PHY1 时钟 + 1-4 数据1-2.5 Gbps/Lane低短(<30cm)广泛支持
MIPI C-PHY3 线/通道2-3 Gbps/通道低短(<20cm)部分支持
LVDS1 时钟 + 4-8 数据1-3 Gbps/对中中(<5m)部分支持
Sub-LVDS1 时钟 + 1-4 数据0.5-1.5 Gbps/对极低短(<20cm)需确认
Sensor 输出接口连接示意图 图像传感器 CMOS / CCD MIPI CSI-2 LVDS Sub-LVDS 海思 ISP MIPI / LVDS 接收器 MIPI 是当前主流,LVDS 用于长距离/工业场景,Sub-LVDS 用于低功耗老款传感器

2.4 本章小结

  • CCD 与 CMOS 在读出架构上本质不同,CMOS 凭借低功耗、高集成度成为海思平台主流。
  • QE、FWC、暗电流是传感器选型的三大核心参数,直接影响 ISP 调试策略(AEC、BLC、HDR)。
  • MIPI CSI-2 是当前最通用的传感器输出接口,LVDS 和 Sub-LVDS 用于特定场景。
  • 海思 ISP 调试需根据传感器参数和接口类型,配置相应的接收器时序、均衡和校正模块。