4. MERLIC工具链概览与误检漏检风险点
MERLIC 的误检漏检治理，第一步不是调参，而是把工具链看清楚。MERLIC 把机器视觉任务拆成若干可组合的工具，每个工具负责一类明确的图像处理或判定职责。误检与漏检往往不是某个工具“坏了”，而是工具选型、参数敏感度和组合逻辑三者叠加的结果。理解工具分类、参数敏感度以及组合逻辑，才能在出现误检漏检时快速定位风险点，而不是盲目调阈值。
一、常用工具分类：按职责划分
MERLIC 的工具可以按在检测链中承担的职责分为四类，这个分类直接决定了误检漏检会从哪一类工具冒出来。
- 定位与对齐类：如基于形状匹配、模板匹配、圆/直线查找。它们输出位置、角度、缩放，为后续工具建立稳定的坐标系。定位不稳，后续所有测量和判定都会漂移，是漏检的常见源头。
- 测量与几何类：如卡尺、圆拟合、直线拟合、距离与角度计算。它们把像素转换为尺寸、间距、角度等物理量，参数敏感度集中在边缘阈值和拟合范围。
- 检测与判定类：如斑点分析、缺陷检测、存在性检查、分类器。它们直接输出 OK/NG 或类别，是误检漏检最直接的表现层。
- 预处理与辅助类：如滤波、形态学、ROI 裁剪、图像增强。它们不直接判定，但会显著改变后续工具的输入质量，是“隐性风险点”。
需要强调的是，分类不是按工具名称，而是按它在当前任务中实际承担的角色。同一个工具在不同任务里可能属于不同类别，判断风险时要看它在链路中的位置。
二、工具参数敏感度：哪些参数最容易引发误检漏检
参数敏感度指的是参数微小变化是否会导致判定结果翻转。敏感度高的参数是治理的重点。下面用一张参数敏感度与风险关系图来呈现典型工具的关键参数及其风险方向。
从图中可以看出一个基本规律：参数偏松，误检上升；参数偏紧，漏检上升。定位与预处理类工具的参数偏松或偏紧，会以“输入质量变化”的方式传导到下游，使下游判定类工具无论怎么调都难以同时压住误检和漏检。因此治理顺序应当是先稳定定位与预处理，再收紧测量与判定参数。
三、工具组合逻辑：串联、并联与条件分支
MERLIC 工具链的组合方式主要有三种，它们对误检漏检的影响方式不同。
串联组合是最常见的形式：定位 → 测量 → 判定。串联链路上游的误差会逐级传递并可能放大。例如定位角度偏差 0.5°，在距离 200 像素处的测量点就会偏移约 1.7 像素；如果测量的是 0.1 mm 级尺寸，这个偏移足以造成漏检。串联组合的风险点是“误差累积”，治理时要优先保证上游稳定。
并联组合指多个工具对同一目标独立判定，再通过逻辑与/或合并结果。并联的风险点是“判定口径不一致”：两个工具对同一缺陷的敏感度不同，逻辑与会偏向漏检，逻辑或会偏向误检。并联组合必须明确每个分支的职责边界，避免重复判定同一特征。
条件分支指根据前序结果选择不同处理路径，例如先判断有无目标，再决定是否测量。条件分支的风险点是“分支条件本身成为误检漏检源”：如果存在性判断阈值偏松，会把背景误判为目标并进入测量分支，产生误检；偏紧则会把真实目标判为不存在，直接漏检。
四、不同工具在误检漏检中的典型表现
把工具分类、参数敏感度和组合逻辑放在一起，可以归纳出几类典型表现，便于现场快速对号入座。
| 典型表现 | 常见工具位置 | 优先排查方向 |
|---|---|---|
| 同一位置时好时坏，结果随批次波动 | 定位与对齐 | 匹配分数、光照稳定性、模板更新 |
| 尺寸测量值整体偏移，但重复性尚可 | 测量与几何 | 标定、边缘极性、拟合范围 |
| 良品被频繁判 NG，缺陷特征不明显 | 检测与判定 | 判定阈值偏松、ROI 包含干扰 |
| 缺陷偶尔被判 OK，漏检集中在弱对比缺陷 | 检测与判定 + 预处理 | 阈值偏紧、滤波过度、光照不足 |
| 更换批次后误检漏检同时上升 | 预处理 + 定位 | ROI 未随产品变化、预处理参数未适配 |
需要说明的是，表中参数与表现均为教学示例，用于说明排查方向，实际项目中应以现场标定和验证数据为准。
五、一个可复用的排查顺序
面对误检漏检，建议按以下顺序排查，避免在错误层级反复调参：
- 先确认定位与对齐是否稳定，观察匹配分数和位姿输出是否随批次漂移。
- 再检查预处理是否改变了缺陷的可分性，尤其是滤波核大小和 ROI 边界。
- 然后检查测量类工具的边缘阈值和拟合范围，确认测量值重复性。
- 最后才调整判定类工具的阈值，并同时观察误检率和漏检率的变化方向。
- 若使用并联或条件分支，单独验证每个分支的判定口径，再验证合并逻辑。