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ATE测试序列开发实战教学

共计 30 章节
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01
ATE测试简介与行业发展
ATE定义 · 历史 · 应用领域
ATE测试简介
02
ATE系统硬件架构
测试头 · 测试机台 · 探针卡
ATE系统硬件架构
03
测试头与探针卡
探针卡类型 · 接触原理 · 维护保养
测试头探针卡
04
测试机台的选择与配置
主流厂商（Teradyne · Advantest · Chroma）
测试机台的选择配置
05
测试语言基础
STIL语言：语法 · Pattern定义 · Timing定义
测试语言基础STIL
06
测试语言进阶
WGL格式：结构 · 向量 · 压缩
测试语言进阶WGL
07
测试向量与测试模式
向量类型 · 生成方法 · 压缩技术
测试向量测试模式
08
时序（Timing）定义
时钟 · 周期 · 边沿
Timing时序
09
测试序列的概念
序列嵌套 · 条件跳转 · 循环
测试序列的概念序列嵌套
10
测试程序结构
Main · Subroutine · Macro
测试程序结构Main
11
测试流程开发
初始化 · 测量 · 判断
测试流程开发初始化
12
信号与电平
VIH · VIL · VOH
信号电平
13
驱动与比较
驱动模式（高阻 · 驱动） · 比较模式（高阻
驱动比较
14
测试通道（Channel）映射
通道分配 · 共享通道
Channel测试通道
15
测试数据格式
TDL · ATAL · Log文件
测试数据格式TDL
16
测试序列生成算法
基于图 · 基于约束的自动生成
测试序列生成算法基于图
17
并行测试与多site
多site同步 · 资源分配
site并行测试
18
测试程序调试技巧
波形查看 · 断点 · 手动干预
测试程序调试技巧波形查看
19
故障模型与故障覆盖
SAF · Bridging · Open故障
故障模型故障覆盖
20
扫描链测试（Scan）
扫描链原理 · 测试向量生成
Scan扫描链测试
21
BIST内建自测试
MBIST · Logic BIST
BIST内建自测试
22
存储器测试
March算法 · ECC测试
存储器测试March
23
混合信号测试基础
ADC/DAC测试 · 噪声测试
混合信号测试基础ADC/DAC
24
射频测试简介
S参数 · 功率 · EVM
射频测试简介S参数
25
测试数据采集与分析
DC测试 · 功能测试 · 数据可视化
测试数据采集分析
26
良率分析基础
良率计算 · Pareto图 · 根本原因分析
良率分析基础良率计算
27
测试时间优化
并行测试 · 向量压缩 · 多site
测试时间优化并行测试
28
ATE自动化与脚本
Python/Perl脚本控制ATE
ATE自动化
29
实际案例
数字芯片测试开发：从需求到程序
实际案例数字芯片测试开发
30
实际案例
模拟芯片测试开发：OPAMP测试 · LDO测试
实际案例OPAMP