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ATE测试平台搭建与量产测试方案设计

共计 30 章节

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ATE概述与基础概念

介绍ATE的基本定义 · 发展历程以及在现代半导体测试中的关键…

ATE基础概念

ATE测试系统分类与应用场景

区分不同类型ATE系统及其在数字 · 模拟 · 射频等领域的应用

ATE测试系统分类

ATE硬件架构

测试头 · 探针卡 · 负载板

ATE硬件架构

ATE软件架构

测试操作系统 · 测试开发环境：介绍ATE软件栈 · 包括实时系统

ATE软件架构

ATE测试流程

从需求到量产：梳理测试方案制定 · 程序开发 · 验证

ATE测试流程

测试方案设计思路

如何根据芯片规格书设计测试策略 · 包括测试项优先级与覆盖率

测试方案设计思路如何根据芯片规格…

测试向量与测试模式

理解测试向量（patterns）的概… · 以及功能测试 · 扫描测试

测试向量测试模式

数字测试基础

逻辑门测试 · DC参数测试 · AC参数测试的原理与实现

数字测试基础逻辑门测试

模拟测试基础

运算放大器 · ADC/DAC等模拟器件的测试方法与…

模拟测试基础运算放大器

混合信号测试

数模混合芯片的测试挑战 · 包括时间对准 · 串扰处理等

混合信号测试数模混合芯片的测…

射频测试基础

射频器件的S参数 · 噪声系数 · 线性度等测试方法

射频测试基础射频器件的S参数

电源测试与功耗分析

电源管理芯片的测试 · 包括效率 · 纹波

电源测试功耗分析

ATE测试程序开发语言（STIL, WGL, TDL等）

介绍主流测试描述语言及其应用场景

ATE测试程序框架设计

模块化 · 可复用的测试程序架构设计原则

ATE测试程序框架设计

测试代码编写与调试

使用ATE API编写测试代码 · 以及常见的调试技巧

测试代码编写调试

使用ATE API与硬件交互

掌握ATE底层接口API · 实现通道控制 · 测量采样等

测试数据采集与处理

如何高效采集测试结果 · 进行数据分析与统计

测试数据采集处理

测试结果分析与良率提升

通过数据分析定位失效原因 · 迭代优化测试方案

测试结果分析良率提升

ATE校准与维护

定期校准的重要性 · 以及日常维护和故障排除方法

ATE多站点并行测试

利用多站点提高测试吞吐量 · 注意站点间一致性

ATE多站点并行测试

ATE测试时间优化

减少测试时间的策略 · 包括并行测试 · 缩减测试项等

ATE测试时间优化

ATE探针卡设计与选型

探针卡的机械结构 · 电气特性以及选型注意事项

ATE探针卡设计

ATE负载板设计与考虑

负载板的布局 · 阻抗匹配 · 去耦电容等设计要点

ATE负载板设计

ATE测试夹具与接口

测试夹具的设计与ATE接口匹配 · 确保信号完整性

ATE测试夹具

ATE自动化测试系统集成

将ATE与自动化搬运系统 · 数据库集成 · 实现智能制造

ATE自动化测试系统集…

ATE与EDA工具联动

利用设计仿真数据生成测试向量 · 实现DFT协同

ATE测试覆盖率分析

如何计算和提升测试覆盖率 · 确保产品质量

ATE测试覆盖率分析

ATE测试成本控制

从测试时间 · 设备折旧 · 耗材等方面控制成本

ATE测试成本控制

ATE平台搭建实战案例（一）

以某数字芯片为例 · 演示完整搭建过程

ATE平台搭建实战案例

ATE平台搭建实战案例（二）

以某混合信号芯片为例 · 展示复杂测试方案实施

ATE平台搭建实战案例