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高速PCB对ATE测试影响分析教程

共计 30 章节
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01
高速PCB对ATE测试影响概述
课程目标 · 适用范围 · 整体影响关系图
PCBATE
02
高速PCB基础
传输线理论 · 特性阻抗 · 信号传播速度
PCB高速
03
ATE测试系统架构
测试机 · 探针台 · 负载板
ATE测试系统架构
04
PCB材料对高速信号的影响
介电常数 · 损耗因子 · 玻璃编织效应
PCB材料对高速信号的…
05
层叠结构设计
参考平面 · 对称性 · 层间耦合对测试的影响
层叠结构设计参考平面
06
阻抗控制与误差源
目标阻抗 · 工艺公差 · 线宽/间距偏差对ATE测试精度的干扰
阻抗控制误差源
07
过孔设计
寄生电容 · 寄生电感 · 过孔残桩对高速测试信号的影响
过孔设计寄生电容
08
走线拓扑
微带线 · 带状线 · 共面波导的选择与测试挑战
走线拓扑微带线
09
串扰机理
近端串扰 · 远端串扰 · 间距与屏蔽对ATE测试通道隔离度的影…
串扰机理近端串扰
10
差分信号设计
差分阻抗 · 奇模/偶模 · 共模噪声对ATE测试眼图的影响
差分信号设计差分阻抗
11
回流路径设计
不连续回流路径 · 缝隙 · 分割平面引入的测试噪声
回流路径设计不连续回流路径
12
电源完整性（PI）与ATE测试
PDN阻抗 · 去耦电容布局 · IR Drop对测试供电的影响
PIATE
13
时钟信号完整性
抖动 · 相位噪声 · 时钟分配网络对ATE时序测试的影响
时钟信号完整性抖动
14
高速串行接口测试
S参数 · 回波损耗 · 插入损耗
高速串行接口测试S参数
15
DDR/LPDDR测试挑战
信号组 · 时序裕量 · 眼图
DDR/LPDDR测试挑战
16
测试夹具（Load Board）设计
探针/插座模型 · 传输线补偿 · 非理想连接器效应
LoadBoard
17
探针接触效应
寄生电感 · 电阻 · 信号退化
探针接触效应寄生电感
18
校准与去嵌入技术
OSLT · SOLT · TRL校准
校准去嵌入技术
19
去耦电容的布局与选型
电容谐振 · 安装电感 · 多电容并联对ATE电源去耦效果的影响
去耦电容的布局选型
20
接地与地弹噪声
地平面 · 接地过孔 · 地弹对信号参考电平的干扰
接地地弹噪声
21
电磁兼容（EMC）问题
辐射 · 屏蔽 · 滤波对ATE测试环境干扰的影响
EMC电磁兼容
22
热管理
高速PCB发热 · 散热 · 温度对材料特性及测试稳定性的影响
热管理PCB
23
高速开关噪声（SSN）
同步开关输出 · 同时切换噪声对ATE测试结果的恶化
SSN高速开关噪声
24
测试信号调理
限幅 · 均衡 · 预加重
测试信号调理限幅
25
抖动分析与分解
随机抖动 · 确定性抖动 · 数据相关抖动
抖动分析分解
26
眼图与浴盆曲线
眼图张开度 · 眼高 · 眼宽
眼图浴盆曲线
27
时域反射计（TDR）测试
阻抗连续性 · 不连续性定位 · 断裂与短路诊断在PCB验证中的应用
TDR时域反射计
28
网表与仿真
SPICE · IBIS · S参数模型在ATE测试前仿真与问题预…
网表仿真
29
自动化测试程序开发
测试向量 · 时序生成 · 通道映射
自动化测试程序开…测试向量
30
案例分析与总结
高速PCB设计缺陷导致ATE测试失效…
案例分析PCB