CTLE 电路结构:常见拓扑(源极退化差分对等)

聊 CTLE 的增益和截止频率调整,绕不开电路结构。我入行那会儿,前辈扔给我一句话:「CTLE 好不好,看退化做没做到位。」后来自己跑过十几个 SerDes 项目,才发现这句话真没错。

最常见的拓扑就是 源极退化差分对。它结构简单,却能同时调增益和带宽,特别适合串行链路的信道均衡。

源极退化差分对的基本原理

先看一个常规差分对。如果你在源极之间并联一个阻抗 Zdeg,就构成了退化结构。

核心思路是:退化阻抗在高频和低频表现出不同的阻抗值,从而改变差分对的跨导,形成高通特性。低频时退化阻抗较小,负反馈强,增益压低;高频时退化阻抗变大(比如寄生电容短路),负反馈弱,增益恢复。这不就是我们要的均衡效果吗?

关键公式(你们应该熟):

Av ≈ gm × RL / (1 + gm × Zdeg)

直流增益由 Zdeg 主导,高频增益逼近 gmRL。

我以前在 28Gbps 项目里,信道损耗接近 20dB,源极退化差分对配了一个可调电阻阵列,愣是把眼图从闭合状态拉到了开眼角。嗯,那种感觉——爽。

常见退化拓扑对比

实际电路中,退化元件可以用电阻、MOS 管、电容,或者它们的组合。我按常用程度排个表:

退化类型实现方式高频滚降特性可调性噪声
纯电阻两个源极之间接 Rdeg平坦差(需开关阵列)低
MOS 管(线性区)栅压控制退化电阻平坦好(连续可调)中等
RC 并联Rdeg // Cdeg高频增益提升中等(调 R 或 C)中等
源极跟随器反馈交叉耦合对 + 退化陡峭复杂较高

我个人习惯:如果信道损耗曲线比较平缓,用纯电阻或 MOS 退化;如果损耗在高频急剧增加,RC 并联更合适。你想想看,RC 退化其实在低频和高频之间插了一个零点,能灵活调整 peak 的位置。

源极退化差分对的几种变体

1. 电阻退化

最直接。源极之间接一个多晶硅电阻或阱电阻。我建议在 10Gbps 以下用这个,噪声小,线性度好。缺点是——一旦流片回来,电阻值就固定了,只能靠外部 bias 微调。

2. MOS 管退化(三极管区)

用一个工作在深线性区的 NMOS 代替电阻。调节栅压就能改变退化阻抗,实现增益连续可调。这是个好办法,但要注意:MOS 管的寄生电容会引入额外零点,搞得高频响应不好控。我踩过这个坑——有一次调着调着眼图突然变差,查了半天才发现是 MOS 管的 Cgd 和 Cgs 在高频形成了前馈路径……后来加了一个 dummy 管抵消才搞定。

3. RC 并联退化

在退化电阻上并联一个电容。低频时电容开路,高频时电容短路,自然形成零点。零点的频率取决于 1/(RC)。这种结构可以很干净地抬高高频增益,而且不需要额外 bias 电流。记得我第一版 56Gbps CTLE 就是靠这个把 3dB 带宽从 12GHz 推到了 28GHz。缺点是电容面积大,而且工艺角下零点偏移严重。

4. 有源退化(交叉耦合对)

用交叉耦合的 MOS 对提供负电阻,抵消部分退化阻抗,达到 boost 效果。这种方法能实现很高的 peaking,但稳定性堪忧。我做项目时几乎不用,除非信道损耗实在太大,没办法才上。

小窍门: 如果你发现纯 RC 退化 boost 量不够,可以尝试在电容支路串联一个小电阻,形成 R1Cdeg 串联 + R2 并联的复合结构,这样零点频率和 boost 量能独立调节。

其他常见拓扑简述

除了源极退化差分对,CTLE 还有几种主流结构:

  • RC 源极退化全差分对: 上面讲过了,最常用。
  • 有源电感负载: 在负载端用并联串联谐振网络,提供 peaking。优势是面积小,但噪声偏大。
  • 共栅-共源级联架构: 用于更高频率(>56Gbps),用共栅管隔离输入寄生,带宽更高。
  • 可调电容阵列退化: 用开关电容替代固定电容,配合数字控制环路,适应不同信道。这个我在 112Gbps SerDes 里见过,但功耗和面积都不小。

不管选哪种,最核心的权衡就是:boost 增益 vs 噪声 vs 线性度 vs 面积。我通常先根据信道 S21 曲线确定需要的 peaking 形状,再用仿真工具扫一遍退化类型,最后决定。

注意: 源极退化差分对的共模反馈必须单独处理。很多人只关注差模增益,结果共模电压漂到天上去。我曾经在 tapeout 前发现 Vout,cm 跑到了 1.2V 而电源才 1.0V——直接改版。所以,一定加一个高速共模反馈环路,带宽至少是数据率的一半。

本章核心拓扑图

下面这张图汇总了源极退化差分对的基本结构,以及退化元件的常见组合方式。我把不同退化元件用颜色区分开,方便对照。

源极退化差分对基本结构与退化元件组合 RL RL VDD M1 输入管 M2 输入管 退化阻抗 Zdeg R Mlin C R∥C ISS 尾电流 GND Vin+ Vin- Vout- Vout+ 退化元件选择影响: 增益、带宽、噪声、调谐范围 一阶零点由 Zdeg 响应决定。

看到没,退化元件框里我标了四种常见选择。实际项目中,你可以把它们做成可切换的阵列,用数字码选择,或者用连续调谐的 MOS 管。我个人偏向用 MOS 管 + 固定电容的组合,既能连续调 R,又能保持零点稳定。

设计中的核心权衡

当你在调 CTLE 增益和截止频率时,脑子里得一直挂着这几个 trade-off:

  • boost 量 vs 噪声: 退化越大,低频增益压得越低,boost 量(高频/低频增益比)越大,但噪声也越大。我一般把噪声余量控制在 20% 以内。
  • 带宽 vs 功耗: 提高带宽需要增大尾电流或减小负载电阻,都会让功耗增加。12Gbps 以下还好,超过 28Gbps 就开始心疼功耗了。
  • 调谐范围 vs 线性度: MOS 管做退化,栅压调得越宽,线性度越差。我曾遇到过一版 CTLE,调增益时眼图没改善多少,但 THD 从 -40dB 飙到了 -25dB,链路直接报错。
  • 面积 vs 性能: 电容退化面积大,特别是 MOM 电容,但性能干净。如果你对面积不敏感,就上电容;如果面积紧,用 MOS 管退化凑合。

调试建议: 开始仿真时先把退化元件设成理想 R 和 C,看能否达到目标均衡效果。确认后才换成实际器件,免得被非理想因素忽悠。我以前直接上真实模型,结果零点偏移 30%,浪费了两周时间去查为什么仿真结果和理想模型对不上。

好了,源极退化差分对的结构和变体就说到这。下回聊具体怎么调增益和截止频率时,你就会明白为什么拓扑选择是第一关。