4. 压缩光探测与表征技术

压缩光之所以能增强传感,核心在于它把某一正交分量的量子噪声压到散粒噪声极限以下。但“压缩了多少”不能靠理论推算,必须通过探测系统实测。本节围绕三个相互衔接的问题展开:如何把压缩光的正交分量信息转换为可测电信号(平衡零拍探测),如何从电信号中提取噪声随频率的分布(噪声谱分析),以及如何由谱密度定量给出压缩度与反压缩度。

一、平衡零拍探测:把正交分量搬到射频

压缩光的载波频率通常在百 THz 量级,直接探测无法分辨正交分量。平衡零拍探测(Balanced Homodyne Detection, BHD)的做法是:让压缩光(信号光)与本振光(LO)在 50:50 分束器上合束,两路输出分别进入一对匹配的光电二极管,再作差分。设信号场为 â,本振为强相干场,其相位为 θ,则差分光电流正比于广义正交分量:

i_diff(t) ∝ |α_LO| · X̂_θ(t)
X̂_θ = â·e^(−iθ) + ↷e^(iθ)

其中 X̂θ 是沿 θ 方向的正交分量。θ=0 时测振幅正交分量,θ=π/2 时测相位正交分量。因此本振相位决定了“看哪个方向”的压缩。差分结构的关键价值在于共模抑制:本振的强度噪声、激光的经典起伏在两路中同相出现,差分后相互抵消,剩下的主要是量子起伏。共模抑制比(CMRR)通常要求优于 30 dB,否则本振经典噪声会淹没压缩信号。

实际搭建时需关注几个工程要点。第一,分束比必须接近 50:50,偏离会引入额外经典噪声;第二,两路光电二极管的量子效率、增益和频响要匹配,失配会降低可见压缩度;第三,本振功率要足够高,使散粒噪声主导电子学噪声,但也不能过高以免饱和;第四,本振相位需用压电陶瓷或相位调制器稳定,相位漂移会直接改变测量方向。光电二极管的量子效率 η 会按 V = η·V0 的比例稀释压缩度,这是实验中压缩度低于理论值的主要原因之一。

平衡零拍探测与噪声谱分析链路 压缩光 信号场 â 本振光 LO 相位 θ 可调 50:50 BS PD1 η₁ PD2 η₂ − 差分 频谱分析仪 RBW / 视频带宽 噪声谱 S(Ω) 频率 Ω 功率 dBm SNL 压缩 反压缩 LO 相位锁定 PZT / 相位调制 共模抑制 CMRR > 30 dB 抑制 LO 经典强度噪声 总探测效率 η = η_opt · η_PD · η_mode 实测压缩度 V_meas = η · V_squeeze

二、噪声谱分析:从时域电流到频域谱密度

差分光电流是时域信号,压缩信息体现在其涨落的功率谱密度上。将差分信号送入频谱分析仪,在分析频率 Ω(通常为几百 kHz 到几 MHz,避开激光技术噪声)处测量噪声功率。为便于比较,通常把测得功率对散粒噪声极限(Shot Noise Limit, SNL)归一化,用 dB 表示:

噪声功率(dB,相对 SNL)= 10·log₁₀(S_meas(Ω) / S_SNL(Ω))

SNL 的获取方式是:挡住信号光,只保留本振光,此时差分输出即为散粒噪声基线。这一步是压缩度测量的“标尺”,必须在同一本振功率、同一分析频率、同一 RBW 下测量。若本振功率变化,SNL 基线随之变化,压缩度读数会失真。

噪声谱分析中有几个参数直接影响测量可信度。分辨率带宽(RBW)越小,谱越平滑但扫描越慢;视频带宽(VBW)用于平滑显示,不改变实际噪声功率。分析频率的选择要避开 50 Hz 工频及其谐波、激光弛豫振荡峰和电子学 1/f 噪声区。通常选择 1~5 MHz 的“干净”频段,此时散粒噪声主导,压缩谱平坦。若在低频测量,技术噪声会抬高基线,导致压缩度被低估甚至误判为反压缩。

三、压缩度与反压缩度的定量测量

压缩度通常用 dB 表示,定义为相对散粒噪声极限的噪声降低量:

压缩度 = −10·log₁₀(S_squeeze / S_SNL)   (正值表示低于 SNL)
反压缩度 = +10·log₁₀(S_anti / S_SNL)   (正值表示高于 SNL)

例如,若在 2 MHz 处测得压缩方向噪声比 SNL 低 3 dB,则压缩度为 3 dB,对应噪声功率降为 SNL 的 0.5 倍;同时反压缩方向通常高于 SNL 约 3 dB 以上(受损耗影响,反压缩量一般大于压缩量)。测量时需旋转本振相位 θ,记录噪声随 θ 的变化曲线,其极小值对应压缩度,极大值对应反压缩度。理想情况下两者关于 SNL 对称,但实际因损耗和额外噪声,反压缩度往往大于压缩度。

损耗是压缩度测量的头号敌人。总探测效率 η 包括光学传输损耗、光电二极管量子效率、模式匹配效率。若 η=0.9,则 3 dB 的压缩会被稀释为约 2.4 dB;若 η=0.5,3 dB 压缩只剩约 1.2 dB。因此实验中要尽量提高模式匹配(通常要求 >95%)、使用高量子效率光电二极管(>95%),并减少光路插损。此外,电子学噪声必须低于 SNL 至少 10 dB,否则会抬高基线,使压缩度被低估。

测量压缩度时,先测 SNL 基线,再测压缩光噪声,最后旋转 LO 相位找极小值。三步必须在同一增益、同一 RBW、同一本振功率下完成,否则数据不可比。

四、实操要点与结果判读

一次完整的压缩度测量可按以下流程执行。首先,遮挡信号光,仅注入本振光,在目标分析频率处记录 SNL 功率 PSNL。然后,恢复信号光,微调模式匹配,使直流差分信号最小(表明两路平衡)。接着,扫描 LO 相位,记录噪声功率随 θ 的变化,找到最小值 Pmin 和最大值 Pmax。最后计算:

压缩度(dB) = 10·log₁₀(P_SNL / P_min)
反压缩度(dB) = 10·log₁₀(P_max / P_SNL)

判读结果时,若压缩度为正且反压缩度大于压缩度,说明系统工作正常;若压缩度接近 0 或为负,应检查本振相位是否锁定、模式匹配是否良好、电子学噪声是否过高、分析频率是否落在技术噪声区。若反压缩度异常大而压缩度很小,通常是总效率偏低或存在额外相位噪声。通过这些判据,可以快速定位问题并优化系统,使压缩光真正服务于后续的传感测量。