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IR Drop问题定位与解决教程

共计 30 章节
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01
课程导入
IR Drop的定义 · 产生原因 · 对芯片性能与可靠性的影响
课程导入IR
02
电源分配网络基础
PDN的组成（电源/地平面 · 过孔 · 封装
电源分配网络基础PDN
03
IR Drop分类与机理
静态IR Drop与动态IR Dro… · 电阻性压降与电感性压降的物理机制
IRDrop
04
IR Drop关键参数
电源电压 · 电流密度 · 电阻率
IRDrop
05
IR Drop分析流程
从网表提取 · 功耗分析到电压降仿真的完整流程 · 以及EDA工具链（如RedHawk
IRDrop
06
功耗估算方法
开关功耗 · 短路功耗 · 泄漏功耗的计算
功耗估算方法开关功耗
07
电源模型构建
理想电源模型 · 实际电源模型（含封装寄生参数）的建立…
电源模型构建理想电源模型
08
IR Drop仿真设置
仿真网格密度 · 时间步长 · 收敛条件等关键参数的选择与优化
IRDrop
09
静态IR Drop分析
基于平均功耗的静态压降分析方法 · 热点识别与报告解读
IRDrop
10
动态IR Drop分析
基于时序功耗的动态压降仿真 · 峰值电流与压降波形分析
IRDrop
11
IR Drop热点定位
通过电压分布图 · 电流密度图 · 功耗密度图定位关键热点区域
IRDrop
12
IR Drop与时钟树
时钟网络上的IR Drop对时钟偏斜 · 时钟抖动的影响及分析方法
IRDrop
13
IR Drop与信号完整性
压降对信号延迟 · 噪声容限的影响 · 以及协同分析策略
IRDrop
14
IR Drop与电源完整性
与地弹 · 同步开关噪声（SSN）的关联及综合优…
IRDrop
15
IR Drop修复策略
增加去耦电容 · 加宽电源走线 · 优化电源网格
IRDrop
16
去耦电容优化
去耦电容的选型 · 放置位置 · 容量计算与谐振抑制
去耦电容优化去耦电容的选型
17
电源网格设计优化
网格间距 · 线宽 · 层分配对IR Drop的改善效果
电源网格设计优化网格间距
18
封装与板级IR Drop
封装引脚 · 焊球 · PCB电源层的压降分析及协同设计
IRDrop
19
IR Drop与功耗管理
动态电压频率调整（DVFS） · 电源门控对IR Drop的影响
IRDrop
20
IR Drop与可靠性
电迁移（EM）与IR Drop的相互… · 寿命评估
IRDrop
21
IR Drop案例分析（数字芯片）
一个典型SoC的IR Drop问题定…
IRDrop
22
IR Drop案例分析（模拟/混合信号）
模拟模块的IR Drop敏感性与解决…
IRDrop
23
IR Drop案例分析（存储器）
SRAM/DRAM阵列的IR Dro…
IRDrop
24
IR Drop与先进工艺
FinFET · 纳米片等先进节点下的IR Drop挑…
IRDrop
25
IR Drop与3D IC
硅通孔（TSV） · 芯片堆叠中的IR Drop分析
IRDrop
26
IR Drop与低功耗设计
多电压域 · 动态电压缩放下的IR Drop管理
IRDrop
27
IR Drop的测量与验证
片上传感器 · 测试结构 · 实测与仿真对比方法
IRDrop
28
IR Drop的自动化流程
脚本化分析 · 回归测试 · 设计规则检查（DRC）集成
IRDrop
29
IR Drop常见问题与误区
仿真精度不足 · 模型不准确 · 修复过度等典型问题及规避
IRDrop
30
综合实战项目
从零开始对一个开源设计进行IR Dr… · 定位 · 优化并输出报告
综合实战项目IR