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《芯片物理验证DRC结果分析:修复方法从入门到项目实践》
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芯片物理验证DRC结果分析:修复方法从入门到项目实践
共计 30 章节
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01
DRC基础概念
什么是设计规则检查(DRC) · DRC在芯片设计流程中的位置 · DRC检查的主要类型(宽度
DRC
基础概念
02
DRC工具与文件格式
主流DRC工具介绍(Calibre · ICV · Assura)
DRC
工具
03
DRC结果文件解析
DRC结果文件的结构 · 错误标记(Marker)的含义 · 如何读取和解析DRC结果文件(以Ca…
DRC
结果文件解析
04
DRC错误分类与优先级
DRC错误严重等级(Fatal · Error · Warning)
DRC
错误分类
05
DRC结果可视化
使用版图编辑器(如Virtuoso · Calibre RVE)加载DRC结… · 高亮显示错误
DRC
结果可视化
06
常见DRC错误修复入门
线宽(Width)违规修复 · 间距(Space)违规修复 · 包围(Enclosure)违规修复
DRC
常见
07
金属层DRC修复
金属线宽与间距修复 · 金属密度填充(Metal Fill)… · 天线效应(Antenna Effec…
DRC
金属层
08
通孔与接触孔DRC修复
通孔(Via)尺寸与间距规则 · 通孔阵列(Via Array)规则 · 接触孔(Contact)与有源区/多…
DRC
通孔
09
有源区与多晶硅层DRC修复
有源区(AA)宽度与间距 · 多晶硅(Poly)栅极延伸规则 · 有源区与多晶硅的交叠规则
DRC
有源区
10
阱与注入层DRC修复
N阱/P阱间距规则 · 阱包围有源区规则 · 注入层(N+/P+)与阱的对准规则
DRC
注入层
11
密度规则修复
金属密度 · 有源区密度 · 多晶硅密度的检查与修复
密度规则修复
金属密度
12
ESD与I/O相关DRC修复
ESD保护结构规则 · I/O环的DRC规则 · 电源地网络(Power/Ground…
ESD
I/O
13
模拟电路DRC修复
匹配器件(Matching)的DRC… · 敏感信号线的屏蔽规则 · 差分对走线规则
DRC
模拟电路
14
数字电路DRC修复
标准单元库的DRC规则 · 时钟树(Clock Tree)的DR… · 总线(Bus)布线规则
DRC
数字电路
15
层次化DRC修复
顶层与子模块的DRC关系 · 层次化错误定位 · 黑盒(Black Box)处理与边界…
DRC
层次化
16
DRC修复脚本入门
使用Tcl/Perl脚本批量处理DR… · 自动标记和分类错误 · 生成修复报告
DRC
修复脚本入门
17
DRC修复流程自动化
构建DRC修复流水线 · 集成到EDA工具流程 · 使用Makefile或脚本管理修复步…
DRC
修复流程自动化
18
DRC修复案例分析(一)
金属层短路(Short)修复 · 金属线宽不足修复 · 金属间距违规修复
DRC
修复案例分析
19
DRC修复案例分析(二)
通孔阵列缺失修复 · 通孔与金属包围不足修复 · 接触孔与有源区对准修复
DRC
修复案例分析
20
DRC修复案例分析(三)
阱间距违规修复 · 注入层与阱偏移修复 · 密度违规修复
DRC
修复案例分析
21
DRC修复案例分析(四)
天线效应违规修复 · ESD结构违规修复 · I/O环电源线宽度修复
DRC
修复案例分析
22
DRC修复案例分析(五)
模拟电路匹配器件DRC修复 · 差分对走线间距修复 · 敏感信号屏蔽修复
DRC
修复案例分析
23
DRC修复案例分析(六)
数字电路时钟树DRC修复 · 标准单元库DRC违规修复 · 总线布线规则修复
DRC
修复案例分析
24
DRC修复案例分析(七)
层次化DRC错误定位与修复 · 顶层与子模块边界规则修复 · 黑盒处理
DRC
修复案例分析
25
DRC修复验证
修复后重新运行DRC · 对比修复前后结果 · 确保无新引入错误
DRC
修复验证
26
DRC修复与LVS一致性
DRC修复对LVS的影响 · 确保修复后电路连接正确 · LVS与DRC联合调试
DRC
LVS
27
DRC修复与RC提取
DRC修复对寄生参数的影响 · 修复后RC提取验证 · 确保时序和功耗满足要求
DRC
RC
28
DRC修复项目管理
DRC修复团队分工 · 修复进度跟踪 · 修复质量评估
DRC
修复项目管理
29
DRC修复最佳实践
常见DRC错误预防策略 · 版图设计规范 · DRC修复经验总结
DRC
修复最佳实践
30
DRC修复项目实战
从零开始完成一个完整芯片模块的DRC… · 输出修复报告 · 总结项目经验
DRC
修复项目实战
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