3. LVDS IP 架构解析:发送器(TX)与接收器(RX)基本电路结构、共模反馈与预加重

3.1 LVDS 发送器(TX)基本电路结构

LVDS 发送器的核心功能是将并行 CMOS 电平数据转换为低摆幅(约 350 mV)的差分电流信号,通过 100 Ω 终端电阻在接收端产生差分电压。在 T22ULP 工艺下,发送器设计需兼顾低功耗、高数据率(典型 1.0–2.5 Gbps)以及版图热对称性。

关键设计约束: 发送器输出级电流源与开关管对热梯度敏感,版图必须采用共质心(Common-Centroid)布局以抑制热失配导致的共模漂移。

基本电路结构:

  • 电流源(ISRC): 通常由带隙基准或片上 LDO 产生 3.5 mA 恒定电流,决定差分摆幅。
  • 差分开关对(M1–M4): 四个 NMOS 管构成 H 桥结构,根据输入数据 D/D# 切换电流流向,在输出端 OUT+/OUT- 产生 ±3.5 mA 电流。
  • 共模反馈网络(CMFB): 检测输出共模电压 VCM,反馈调节电流源偏置,将共模稳定在约 1.2 V(1.8 V 电源下)。
  • 预加重驱动器(Pre-emphasis): 在数据跳变沿叠加额外电流脉冲,补偿信道高频损耗。
LVDS 发送器(TX)基本电路结构 ISRC 3.5 mA CMFB 环路 差分开关对(H 桥) M1–M4 NMOS 开关管 共质心版图布局 预加重驱动 OUT+ OUT- D/D#

3.2 LVDS 接收器(RX)基本电路结构

接收器将差分信号(约 350 mV 摆幅)恢复为 CMOS 电平。T22ULP 工艺下,接收器需具备高共模抑制比(CMRR)和低输入失调,版图热对称性直接影响判决阈值稳定性。

基本电路结构:

  • 输入终端电阻(RT): 片内 100 Ω 差分电阻,匹配传输线特性阻抗。
  • 差分放大器(Pre-amp): 第一级提供约 6–10 dB 增益,将差分电压放大至 1 V 以上。
  • 比较器(Comparator): 再生锁存结构,将模拟差分信号判决为数字 CMOS 电平。
  • 共模反馈(CMFB): 检测输入共模电压,调节 Pre-amp 偏置电流,确保输入共模范围(ICMR)覆盖 0.5–1.5 V。
LVDS 接收器(RX)基本电路结构 终端电阻 100Ω 差分 Pre-amp 再生比较器 CMFB 环路 CMOS 输出 IN+/IN-

3.3 共模反馈(CMFB)原理与版图热效应

共模反馈是 LVDS 收发器维持输出/输入共模电压稳定的关键环路。在 T22ULP 工艺中,CMFB 对热梯度尤为敏感,因为电阻和晶体管阈值电压(VTH)随温度变化,导致共模点漂移。

参数 TX CMFB RX CMFB
检测对象 输出 OUT+/OUT- 共模电压 输入 IN+/IN- 共模电压
反馈对象 电流源 ISRC 偏置 Pre-amp 尾电流偏置
目标共模 1.2 V(1.8 V 电源) 1.0–1.3 V(自适应)
热敏感元件 电阻分压网络、误差放大器 电阻分压网络、误差放大器
版图热对策 共质心电阻对、对称走线 共质心电阻对、对称走线
热效应提示: 当芯片存在 5°C 温度梯度时,未做共质心布局的 CMFB 电阻对可产生 2–3 mV 共模偏移,直接导致接收器判决裕度下降。建议在版图中将 CMFB 电阻对置于等温线对称位置。

3.4 预加重(Pre-emphasis)原理与实现

预加重通过在数据跳变沿注入额外电流,补偿信道趋肤效应和介质损耗引起的高频衰减。T22ULP 工艺下,预加重驱动器的版图热管理直接影响脉冲幅度和宽度精度。

预加重参数定义:

  • 预加重幅度(APE): 叠加电流与主电流之比,典型 20%–50%。
  • 预加重宽度(TPE): 脉冲持续时间,通常为 1–2 个 UI(单位间隔)。
  • 控制方式: 数字可编程电流 DAC + 延迟链。

预加重对版图热效应的影响:

因素 热效应描述 版图对策
电流 DAC 电阻 温度升高导致电阻值变化,APE 漂移 使用低 TCR 电阻(如 P+ Poly),共质心布局
延迟链缓冲器 热梯度导致延迟失配,TPE 不对称 延迟单元沿等温线排列,电源地对称
开关管对 热失配引起预加重脉冲幅度不平衡 开关管共质心, dummy 管环绕
预加重脉冲时序与热效应关系 主电流脉冲 预加重 叠加输出波形 热梯度 → 幅度/宽度漂移
版图热设计警告: 预加重 DAC 和延迟链若未做热对称布局,在芯片边缘温度比中心高 8–10°C 时,预加重幅度可衰减 15% 以上,导致眼图闭合。务必在布局阶段将预加重模块置于芯片热中心附近,并采用 dummy 管和 dummy 电阻进行热隔离。