第1章
DFT基础概念
什么是DFT · DFT在芯片设计中的位置 · 与功能测试的区别
概念入门
第2章
扫描链原理
基本结构 · 扫描输入输出 · 模式切换
扫描原理
第3章
扫描链设计实践
插入流程 · 综合 · 验证
实践流程
第4章
ATPG基础
ATPG概念 · 故障模型 · 算法简介
ATPG故障
第5章
ATPG实践
工具使用 · 向量生成 · 故障覆盖率分析
工具覆盖率
第6章
边界扫描 (JTAG)
JTAG标准 · TAP控制器 · 指令/数据寄存器
JTAG边界扫描
第7章
边界扫描应用
板级测试 · 互联测试 · BSDL解析
应用BSDL
第8章
BIST基础
BIST概念 · LFSR原理 · MISR原理
BISTLFSR
第9章
Memory BIST
MBIST架构 · 控制器 · 修复机制
存储器修复
第10章
Logic BIST
LBIST架构 · STUMPS · 测试点插入
逻辑BISTSTUMPS
第11章
测试压缩技术
数据压缩 · X-tolerant · EDT技术
压缩EDT
第12章
功耗感知测试
测试功耗 · 低功耗扫描链 · VDD/VSS隔离
低功耗隔离
第13章
测试调度与规划
时间优化 · 并行测试 · 资源分配
调度规划
第14章
DFT设计规则检查
DRC规则 · 违例修复 · DFT约束
DRC约束
第15章
DFT与STA的交互
时序约束 · 测试时钟树 · 异步处理
STA时钟
第16章
SVA基础
断言概念 · 立即/并发断言 · SVA语法
SVA断言
第17章
SVA进阶
序列与属性 · 操作符 · 时钟/复位
序列属性
第18章
SVA在DFT中的应用
扫描链断言 · BIST断言 · 测试模式断言
DFT+SVA验证
第19章
形式化验证基础
形式化概念 · 模型检查 · 等价性检查
形式化模型
第20章
形式化验证在DFT中的应用
扫描链连通性 · 测试点功能验证
连通性功能
第21章
DFT覆盖率分析
覆盖率类型 · 收集 · 驱动测试生成
覆盖率分析
第22章
DFT测试向量调试
低覆盖率分析 · 故障仿真 · 向量优化
调试优化
第23章
DFT与功能安全的结合
ISO 26262 · LBIST在功能安全中的应用
功能安全ISO26262
第24章
DFT测试接口设计
测试访问端口 · 测试协议 · ATE接口
接口ATE
第25章
DFT自动化脚本
Tcl脚本 · 流程自动化 · 报告生成
Tcl自动化
第26章
DFT项目实战案例1
小型SoC的DFT实现
SoC实战
第27章
DFT项目实战案例2
高速接口的DFT设计
高速接口案例
第28章
DFT项目实战案例3
低功耗芯片的DFT策略
低功耗策略
第29章
DFT与验证的协同
验证计划 · 断言驱动 · 回归测试
协同回归
第30章
DFT前沿技术
AI在DFT · 3D IC测试 · Chiplet挑战
前沿AI