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芯片硬件与光电工程
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132-电源热设计与可靠性
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《电源寿命与失效率评估》
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电源寿命与失效率评估
共计 30 章节
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01
课程导入
目标=电源寿命与失效率评估的意义 · 学习目标 · 整体知识框架与工程应用场景
课程导入
目标=电源寿命
02
可靠性基础
目标=可靠性定义 · 寿命特征 · 失效率
可靠性基础
目标=可靠性定义
03
电源失效模式
目标=电解电容 · MOSFET · 二极管
电源失效模式
目标=电解电容
04
应力与寿命关系
目标=温度 · 电压 · 电流
应力
寿命关系
05
加速寿命模型
目标=Arrhenius模型 · Eyring模型 · 逆幂律模型
加速寿命模型
Arrhenius
06
寿命数据分析
目标=威布尔分布 · 对数正态分布 · 指数分布及其参数估计与拟合优度检验
寿命数据分析
目标=威布尔分布
07
失效率评估方法
目标=元器件计数法 · 应力分析法 · 故障树分析
失效率评估方法
目标=元器件计数…
08
降额设计
目标=降额准则 · 降额系数 · 不同器件的降额策略及其对寿命与失效率…
降额设计
目标=降额准则
09
热设计与寿命
目标=热阻 · 结温 · 热循环
热设计
寿命
10
电容寿命评估
目标=电解电容寿命公式 · 纹波电流 · 等效串联电阻
电容寿命评估
目标=电解电容寿…
11
半导体器件寿命评估
目标=MOSFET与二极管的热载流子 · 栅氧退化 · 雪崩与短路失效评估
半导体器件寿命评…
MOSFET
12
磁性元件与光耦寿命
目标=变压器绝缘老化 · 绕组温升 · 光耦电流传输比退化与寿命预测
磁性元件
光耦寿命
13
焊点与PCB可靠性
目标=热机械疲劳 · 随机振动 · 跌落冲击
PCB
焊点
14
加速寿命试验设计
目标=试验剖面 · 样本量 · 截尾方式
加速寿命试验设计
目标=试验剖面
15
可靠性试验类型
目标=高温工作寿命 · 高温高湿偏置 · 温度循环
可靠性试验类型
目标=高温工作寿…
16
数据采集与处理
目标=试验数据记录 · 异常值处理 · 失效判定
数据采集
处理
17
寿命预测实战
目标=基于威布尔分析的电源模块寿命预…
寿命预测实战
目标=基于威布尔…
18
失效率预计实战
目标=基于应力分析法的开关电源失效率…
失效率预计实战
目标=基于应力分…
19
故障树与FMEA实战
目标=电源系统故障树建立 · 定性定量分析 · FMEA表格填写与改进措施
FMEA
故障树
20
现场失效分析
目标=失效分析流程 · 无损检测 · 电学测试
现场失效分析
目标=失效分析流…
21
常见问题与误区
目标=加速模型误用 · 样本不足 · 数据删失
常见问题
误区
22
标准与规范
目标=MIL-HDBK-217 · Telcordia SR-332 · IEC 62380
标准
规范
23
软件工具
目标=Weibull++ · JMP · Minitab
软件工具
Weibull++
24
设计改进与优化
目标=基于寿命评估结果的热设计 · 降额 · 冗余
设计改进
优化
25
生产筛选与老化
目标=环境应力筛选 · 老化试验 · burn-in 方案设计与效果评估
生产筛选
老化
26
维护与健康管理
目标=剩余寿命预测 · 状态监测 · 预测性维护
维护
健康管理
27
综合案例一
目标=工业开关电源寿命评估与失效率预…
综合案例一
目标=工业开关电…
28
综合案例二
目标=电动汽车车载充电机功率模块寿命…
综合案例二
目标=电动汽车车…
29
综合案例三
目标=数据中心电源冗余系统可靠性建模…
综合案例三
目标=数据
30
课程总结与提升
目标=知识体系回顾 · 评估报告撰写 · 常见面试问题
课程总结
提升
所属VIP或分类
同VIP:功率电源热设计完整工程
同VIP:电源HALT与加速寿命验证
同VIP:电源器件结温与降额设计