01
DFT概述
什么是可测性设计 · DFT在芯片开发流程中的位置 · DFT工程师的核心职责
什么是可测性设计DFT在芯片开发
02
测试基础理论
什么是可测性设计 · DFT在芯片开发流程中的位置 · DFT工程师的核心职责
什么是可测性设计DFT在芯片开发
03
扫描链设计（Scan Chain）
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04
边界扫描（JTAG/Boundary Scan）
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什么是可测性设计DFT在芯片开发
05
内建自测试（BIST）
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06
测试压缩技术
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07
DFT时序与功耗
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08
ATPG与测试向量生成
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09
DFT验证与仿真
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10
DFT与后端集成
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11
测试接口与ATE
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12
DFT for 3D IC
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13
DFT for 模拟/混合信号
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14
DFT for 高速接口
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15
DFT for 安全芯片
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16
DFT项目管理
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17
DFT脚本与自动化
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18
DFT Debug与良率分析
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19
DFT for 先进工艺
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20
DFT for 汽车电子
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21
DFT for 物联网芯片
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22
DFT for AI芯片
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23
DFT for FPGA
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24
DFT for 存储器
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25
DFT for 射频芯片
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26
DFT for 生物芯片
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27
DFT for 量子芯片
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28
DFT for 光芯片
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29
DFT for 柔性电子
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30
DFT未来趋势
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