01
量产测试概述
什么是量产测试 · 量产测试在芯片生命周期中的位置 · 良率与成本的关系
什么是量产测试量产测试在芯片生
02
测试系统架构
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03
测试程序开发流程
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04
常见测试项目解析
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05
良率分析基础
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06
测试数据采集
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07
测试失效模式分类
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08
接触不良问题定位
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09
电源问题定位
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10
时序问题定位
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11
工艺偏差问题定位
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12
设计缺陷定位
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13
测试向量调试
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14
Shmoo图实战
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15
测试程序优化
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16
良率提升方法论
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17
统计分析工具
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18
测试硬件调试
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19
温度效应分析
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20
ESD与Latch-up问题
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21
Memory测试问题
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22
RF测试问题
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23
混合信号测试问题
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24
高速接口测试
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25
测试数据挖掘
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26
自动化诊断脚本
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27
跨团队协作流程
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28
量产测试文档规范
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29
典型案例复盘
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30
课程总结与进阶
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