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ATE测试程序开发实训

共计 30 章节
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01
ATE测试概述
ATE测试的定义 · 重要性 · 应用领域
ATE测试概述
02
半导体测试基础
晶圆测试 · 封装测试 · 良率概念
半导体测试基础晶圆测试
03
ATE系统架构
测试头 · 处理器 · 仪器模块等
ATE系统架构
04
测试程序开发流程
需求分析 · 测试方案 · 代码实现
测试程序开发流程需求分析
05
测试语言基础
STIL · WGL · PAT向量格式介绍
测试语言基础STIL
06
数字测试基础
逻辑电平 · 时序参数 · 测试模式
数字测试基础逻辑电平
07
模拟与混合信号测试基础
ADC/DAC测试 · 参数测试
模拟混合信号测试基础
08
DFT与可测试性设计
扫描链 · 边界扫描 · BIST
DFT可测试性设计
09
测试向量生成方法
自动向量生成 · 手动编写
测试向量生成方法自动向量生成
10
测试程序结构
主程序 · 子程序 · 测试模块组织
测试程序结构主程序
11
时序分析
建立时间 · 保持时间 · 测试时序设置
时序分析建立时间
12
电源与电流测试
静态电流 · 动态电流 · 电源纹波测试
电源电流测试
13
高速信号测试
信号完整性 · 眼图 · 抖动测试
高速信号测试信号完整性
14
存储器测试
内存BIST · MBIST · ECC测试
存储器测试BIST
15
射频测试基础
射频参数 · 频谱分析 · RF测试
射频测试基础射频参数
16
ATE平台介绍
Teradyne J750/Ultr… · Advantest T2000等
ATE平台介绍
17
Teradyne IG-XL开发环境
界面 · 项目创建 · 测试模块
TeradyneIG-XL
18
IG-XL测试语言
PCL · Pattern · Test Method开发
IG-XL测试语言
19
测试程序调试技巧
断点 · 日志 · 波形观察
测试程序调试技巧断点
20
测试数据记录与分析
STDF文件 · 数据分析工具
测试数据记录分析
21
多站点测试
并测 · 多工位测试 · 良率提升
多站点测试并测
22
测试程序优化
缩短测试时间 · 提高覆盖率
测试程序优化缩短测试时间
23
测试硬件设计
探针卡 · 负载板 · 接口板
测试硬件设计探针卡
24
校准与补偿
系统校准 · 温度补偿 · offset调整
校准补偿
25
可靠性测试
HTOL · HTSL · ESD测试
可靠性测试HTOL
26
测试程序文档
规格书 · 测试计划 · 报告
测试程序文档规格书
27
测试案例实战一
简单数字芯片的测试程序编写
测试案例实战一简单数字芯片的测…
28
测试案例实战二
混合信号芯片测试程序
测试案例实战二混合信号芯片测试…
29
测试案例实战三
RF芯片测试程序
测试案例实战三RF
30
测试开发最佳实践
版本控制 · 复用 · 协作
测试开发最佳实践版本控制