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数字前端ESD与Latch Up防护设计

共计 30 章节
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01
课程导入
ESD与Latch Up的基本概念 · 失效模式 · 对数字前端设计的重要性
课程导入ESD
02
ESD基础理论
静电放电的物理机制 · 人体模型(HBM) · 机器模型(MM)
ESD基础理论
03
Latch Up基础理论
CMOS工艺中寄生PNPN结构 · 触发机制 · 维持条件
LatchUp
04
数字前端设计中的ESD风险
I/O电路 · 电源域 · 时钟树
ESD数字前端设计
05
ESD防护设计基础
片上ESD保护器件（二极管 · GGNMOS · SCR
ESD防护设计基础
06
Latch Up防护设计基础
保护环(Guard Ring) · 衬底接触 · 阱接触
LatchUp
07
ESD防护设计流程
从规格定义 · 器件选择 · 电路设计到版图布局的完整流程
ESD防护设计流程
08
Latch Up防护设计流程
工艺规则 · 版图布局 · 电源网络设计
LatchUp
09
数字前端ESD防护电路设计
I/O ESD钳位电路 · 电源到地钳位电路 · 内部节点保护电路的设计与仿真验证
ESD数字前端
10
数字前端Latch Up防护电路设计
电源域隔离 · 阱电位偏置 · 衬底电位偏置
LatchUp
11
ESD与Latch Up协同设计
在数字前端中同时考虑ESD和Latc… · 如保护环与ESD注入的相互作用
ESDLatch
12
工艺与器件影响
先进工艺（FinFET · FD-SOI）对ESD和Latch… · 以及工艺选项（如深N阱
工艺器件影响
13
ESD仿真与建模
SPICE模型 · TLP测试数据 · ESD事件瞬态仿真方法
ESD仿真
14
Latch Up仿真与建模
寄生器件提取 · 触发电流/电压仿真 · 温度影响分析
LatchUp
15
版图设计技巧
ESD保护器件的版图实现 · 金属连线宽度 · 接触孔数量
版图设计技巧ESD
16
电源网络设计
电源域划分 · 去耦电容 · 电源钳位电路布局
电源网络设计电源域划分
17
I/O设计专项
数字I/O · 模拟I/O · 高速I/O的ESD防护差异
I/O设计专项
18
时钟与复位网络防护
时钟缓冲器 · 复位信号路径的ESD敏感点 · 以及抗Latch Up的偏置策略
时钟复位网络防护
19
常见ESD失效案例分析
典型HBM/CDM失效案例 · 失效定位方法 · 根因分析及设计改进措施
ESD常见
20
常见Latch Up失效案例分析
典型闩锁失效案例 · 触发源识别 · 防护改进实例
LatchUp
21
ESD/Latch Up测试与验证
芯片级测试方法 · TLP测试 · 系统级ESD测试
ESD/LatchUp
22
设计规则与检查
ESD/Latch Up相关的设计规… · 保护环宽度） · DRC/LVS检查方法及常见错误
设计规则检查
23
EDA工具与流程
ESD/Latch Up检查工具 · 仿真工具 · 版图验证工具的使用
EDA工具
24
先进工艺下的挑战
FinFET · GAA · 3D IC等新工艺对ESD/Latc…
先进工艺下的挑战FinFET
25
系统级ESD与Latch Up考虑
芯片在系统中的ESD事件（如IEC… · 系统级防护与片上防护的配合
ESDLatch
26
可靠性设计
ESD/Latch Up与芯片长期可… · 老化效应 · 温度循环的相互作用
可靠性设计ESD/Latch
27
项目实战
基于一个数字芯片设计实例 · 完成ESD/Latch Up防护方案… · 版图实现和验证
项目实战基于一个数字芯片…
28
常见问题与误区
ESD/Latch Up设计中的常见… · 设计误区 · 经验教训
常见问题误区
29
综合提升
结合多个案例 · 综合运用ESD/Latch Up知识… · 并探讨未来技术趋势
综合提升结合多个案例
30
课程总结与考核
核心知识点回顾 · 设计流程总结 · 考核题目与项目答辩
课程总结考核