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DFT工程师从入门到精通

共计 30 章节

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DFT工程师的角色定位 · 行业需求 · 职业发展路径

课程导入DFT

数字电路基础回顾

组合逻辑 · 时序逻辑 · 状态机

数字电路基础回顾组合逻辑

可测试性设计（DFT）概述

DFT的定义 · 目的 · 历史演进

DFT可测试性设计

故障模型与测试原理

常见故障模型（如固定故障 · 跳变故障 · 桥接故障）

故障模型测试原理

扫描链设计基础

扫描链的工作原理 · 扫描触发器结构 · 扫描链的插入方法和基本设计规则

扫描链设计基础扫描链的工作原理

扫描链设计与优化

扫描链的时钟规划 · 功耗优化 · 布线优化

扫描链设计优化

自动测试向量生成（ATPG）

ATPG的基本流程 · 算法（如D算法 · PODEM

ATPG自动测试向量生成

内建自测试（BIST）

BIST的基本概念 · 逻辑BIST（LBIST）和存储器B… · 实现步骤和案例分析

BIST内建自测试

边界扫描测试（JTAG）

IEEE 1149.1标准 · 边界扫描链结构 · 指令集

JTAG边界扫描测试

存储器测试与修复

存储器故障模型 · MBIST架构 · 存储器修复（如冗余行/列）和测试流程

存储器测试修复

DFT设计规则检查（DRC）

DFT相关的设计规则 · DRC工具使用 · 常见违规及修复方法

DFT与逻辑综合集成

DFT逻辑在综合流程中的插入时机 · 综合约束 · 扫描链重排和优化策略

DFT逻辑综合集成

DFT与物理设计协同

布局布线中的DFT考虑 · 时钟树综合对扫描链的影响 · DFT信号的物理实现

DFT物理设计协同

DFT验证与仿真

DFT逻辑的功能验证 · 扫描链测试仿真 · ATPG向量仿真和故障仿真方法

ATE测试与量产测试

ATE（自动测试设备）基础 · 测试程序开发 · 测试时间优化和良率分析

DFT脚本与自动化

使用Tcl/Perl等脚本语言实现D… · 工具接口和批量处理技巧

DFT工具使用实战（一）

主流DFT工具（如Synopsys… · Mentor Tessent）的界面 · 流程和基本操作

DFT工具使用实战

DFT工具使用实战（二）

扫描链插入 · ATPG生成 · BIST集成等工具实操案例

DFT工具使用实战

低功耗DFT设计

低功耗设计中的DFT挑战 · 电源门控与扫描链的交互 · 低功耗ATPG和BIST技术

高速接口与DFT

高速串行接口（如PCIe · USB）的测试挑战 · Loopback测试

DFT高速接口

DFT与功能安全

ISO 26262等标准对DFT的要… · 故障注入 · 安全机制和DFT在功能安全中的应用

DFT功能安全

DFT与可制造性设计（DFM）

DFT与DFM的关联 · 良率提升 · 缺陷分析和测试数据挖掘

DFT项目实战（一）

从RTL到GDS的完整DFT流程 · 包括扫描链插入 · ATPG

DFT项目实战

DFT项目实战（二）

一个典型SoC芯片的DFT设计案例 · 涵盖多时钟域 · 多电源域和复杂IP的测试策略

DFT项目实战

DFT项目实战（三）

存储器BIST和修复的完整案例 · 包括MBIST控制器设计 · 测试和修复验证

DFT项目实战

DFT常见问题与调试

扫描链失效 · ATPG覆盖率低 · BIST故障等常见问题的诊断和调试方…

DFT常见问题

DFT新技术与趋势

机器学习在DFT中的应用 · 自适应测试 · 云测试

DFT工程师的软技能

项目管理 · 跨团队沟通 · 文档撰写

DFT工程师的软技能

综合提升与面试准备

DFT工程师面试常见问题 · 技术深度和广度提升建议 · 职业规划指导

综合提升面试准备

课程总结与项目答辩

回顾全部知识点 · 完成一个综合DFT设计项目并进行答辩 · 巩固所学并展示能力

课程总结项目答辩