所属分类：芯片半导体与FPGA 当前为单品课程，可返回上一级继续浏览同方向资料。

← 返回上一级

← 返回所属目录咨询 / 购买

DFT可测试性设计IEEE 1500与1687标准入门到精通

共计 30 章节

点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域

DFT（可测试性设计）的基本概念 · 重要性 · 发展历程

课程导论DFT

故障模型（固定故障 · 跳变故障 · 桥接故障）

测试基础故障模型

可测试性设计基础

扫描链设计 · BIST（内建自测试） · 边界扫描（JTAG）等传统DFT技术…

可测试性设计基础扫描链设计

IEEE 1500标准概述

标准背景 · 目标 · 适用范围

IEEE1500标准概述

IEEE 1500核心概念

Wrapper单元 · Wrapper指令 · Wrapper串行端口（WSP）

IEEE1500核心概念

IEEE 1500测试访问机制（TAM）

TAM的类型（串行/并行） · TAM设计方法 · TAM与Wrapper的接口

IEEE 1500指令集与操作

强制指令（如EXTEST · INTEST · BYPASS等）

IEEE1500指令集

IEEE 1500测试流程

如何基于1500标准进行IP核测试 · SoC集成测试 · 包括测试调度

IEEE1500测试流程

IEEE 1500设计实例

通过一个简单IP核的Wrapper设… · 演示从RTL到网表的1500实现步骤 · 包括Wrapper单元插入和TAM连…

IEEE1500设计实例

IEEE 1500验证方法

如何验证1500设计是否符合标准 · 包括仿真测试平台搭建 · 一致性检查

IEEE1500验证方法

IEEE 1687标准概述

IJTAG（内部JTAG）的动机 · 目标 · 与IEEE 1500和1149.1的…

IEEE1687标准概述

IEEE 1687核心概念

Instrument（仪器） · Segment（段） · Scan Network（扫描网络）

IEEE1687核心概念

ICL（Instrument Connectivity Language）

ICL的语法 · 结构 · 如何描述仪器连接和扫描网络拓扑

PDL（Procedural Description Language）

PDL的语法 · 操作（如write · read

IEEE 1687扫描网络设计

扫描网络的基本结构 · SIB的工作原理 · 如何通过SIB实现动态配置和访问控制

IEEE1687扫描网络…

IEEE 1687重定向（Retargeting）

重定向的概念 · 算法 · 工具支持

IEEERetargeting

IEEE 1687测试流程

从ICL/PDL描述到测试生成 · 仿真 · 验证的完整流程

IEEE1687测试流程

IEEE 1687设计实例

设计一个包含多个仪器的扫描网络 · 使用ICL描述连接 · 编写PDL测试程序

IEEE1687设计实例

IEEE 1500与1687的集成

如何将1500的Wrapper与16… · 实现SoC级可测试性架构 · 以及协同测试策略

DFT流程整合

在芯片设计流程中如何插入1500/1… · 包括RTL阶段 · 综合阶段

DFT流程整合

测试调度与优化

多核/多IP场景下的测试调度算法 · 如何利用1500/1687特性减少测… · 降低测试功耗

测试调度优化

工具链与自动化

主流EDA工具（如Synopsys · Cadence · Mentor）对1500/1687的…

工具链自动化

基于一个真实SoC（如开源RISC-… · 实现1500/1687标准 · 并完成测试仿真与覆盖率分析

案例实战SoC

常见问题与调试

Wrapper插入失败 · ICL语法错误 · PDL执行异常

常见问题调试

测试成本与收益分析

面积开销 · 性能影响 · 测试时间

测试成本收益分析

标准演进与未来趋势

IEEE 1500/1687的最新修… · 与IEEE 1838（3D测试）的关… · 以及面向先进封装

标准演进未来趋势

如何将1500/1687知识应用于可… · 测试IP开发 · 测试工程师团队协作等高级场景

综合提升如何将1500

实验与练习

设计一个简单的Wrapper和SIB… · 使用Verilog实现 · 并编写测试平台验证功能

从零开始为一个IP核设计完整的IEE… · 包括Wrapper · TAM

课程总结与考核

回顾全部知识点 · 进行综合测试（理论+实践） · 评估学员对1500/1687标准的掌…

课程总结考核