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ASIC设计测试模式压缩与X容忍逻辑设计

共计 30 章节
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01
课程导入
ASIC测试背景 · 测试成本挑战 · 测试模式压缩与X容忍的总体价值
课程导入ASIC
02
可测试性设计基础
扫描链设计 · ATPG基本流程 · 故障模型与测试覆盖率概念
可测试性设计基础扫描链设计
03
测试数据压缩原理
测试向量冗余来源 · 压缩比定义 · 无损与有损压缩分类
测试数据压缩原理测试向量冗余来源
04
经典压缩方法
编码压缩（如Run-length · Huffman） · 字典压缩
经典压缩方法Run-length
05
基于扫描的压缩架构
广播扫描 · 串行压缩 · MISR响应压缩与扫描链分组策略
基于扫描的压缩架…广播扫描
06
X状态问题
X态来源（未初始化触发器 · 总线竞争 · 模拟宏）
X状态问题X态来源
07
X容忍基础
X掩蔽 · X阻断 · X传播控制的基本逻辑设计方法
X容忍基础X掩蔽
08
X容忍压缩技术
X-tolerant响应压缩器（如X… · MISR+掩蔽） · X-compact原理
X容忍压缩技术X-tolerant
09
片上解压缩器设计
解压器结构（LFSR · 环形生成器） · 种子存储与解压控制逻辑
片上解压缩器设计LFSR
10
测试模式压缩流程
从RTL到ATE的完整流程 · 压缩模式生成与验证步骤
测试模式压缩流程RTL
11
ATPG与压缩集成
ATPG工具如何生成压缩模式 · 约束设置与覆盖率权衡
ATPG压缩集成
12
X容忍逻辑设计实战
在RTL中插入X掩蔽逻辑 · 时序约束与面积开销分析
X容忍逻辑设计实…RTL
13
案例实战
基于OpenSPARC或工业SoC的… · 分析压缩比与覆盖率
案例实战OpenSPARC
14
常见问题与调试
压缩后覆盖率下降 · X态泄漏 · 解压器时序违例的定位与修复
常见问题调试
15
高级主题
确定性压缩 · 嵌入式确定性测试（EDT） · 自适应压缩
高级主题确定性压缩
16
测试压缩与低功耗设计
扫描链功耗优化 · 压缩对测试功耗的影响
测试压缩低功耗设计
17
多时钟域与X容忍
跨时钟域测试中的X处理 · 异步FIFO测试策略
多时钟域X容忍
18
压缩器验证方法
形式化验证 · 仿真验证 · 可测试性验证（DFT规则检查）
压缩器验证方法形式化验证
19
工业标准与工具
IEEE 1149.1/1500 · 主流EDA工具（如Synopsys… · Mentor EDT）使用
工业标准工具
20
压缩与诊断
故障诊断精度 · X容忍对诊断质量的影响 · 诊断压缩技术
压缩诊断
21
测试模式压缩的数学基础
线性代数 · 有限域 · LFSR特性
测试模式压缩的数…线性代数
22
X容忍逻辑的时序设计
掩蔽信号时序 · 响应采集窗口 · 时钟门控与X控制
X容忍逻辑的时序…掩蔽信号时序
23
案例实战
针对特定设计（如MCU · AI加速器）制定压缩与X容忍方案并评…
案例实战MCU
24
压缩与测试访问机制
TAM设计 · 测试引脚复用 · 片上测试控制器集成
压缩测试访问机制
25
可制造性测试与压缩
良率学习 · 缺陷诊断 · 压缩模式在量产测试中的应用
可制造性测试压缩
26
压缩与安全
硬件木马检测 · 安全敏感测试模式压缩的挑战
压缩安全
27
未来趋势
机器学习在测试压缩中的应用 · 新型X容忍逻辑 · 3D IC测试压缩
未来趋势机器学习
28
综合项目
从RTL设计到测试压缩与X容忍逻辑实… · 包括报告与答辩
综合项目RTL
29
课程总结
核心知识回顾 · 常见误区 · 学习路径建议与进阶资源
课程总结核心知识回顾
30
考试与认证
理论测试 · 实践操作考核 · 课程项目评估标准
考试认证