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ADVANTESTV93000ATE平台测试开发

共计 30 章节
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01
课程导入
ATE测试行业背景 · V93000平台定位 · 课程学习目标与整体知识框架
课程导入ATE
02
ATE测试基础概念
数字集成电路测试原理 · 功能测试与参数测试的区别 · ATE系统组成与测试流程
ATE测试基础概念
03
V93000硬件架构
测试头 · 针卡 · 通道板
V93000硬件架构
04
V93000软件环境
SmartTest软件界面 · 测试程序结构 · 工程文件管理
V93000软件环境
05
测试程序开发流程
从测试需求分析 · 测试计划制定 · 程序编写
测试程序开发流程从测试需求分析
06
数字测试基础
数字通道配置 · 电平设置 · 时序设置
数字测试基础数字通道配置
07
DC参数测试
开短路测试 · 漏电流测试 · 电源电流测试
DC参数测试
08
AC参数测试
传输延迟 · 建立保持时间 · 时钟频率
AC参数测试
09
测试向量生成与转换
WGL/STIL/VCD等向量格式解… · 向量转换工具使用 · 向量压缩与优化
测试向量生成转换
10
SmartTest编程语言
SmartTest脚本语法 · 变量与表达式 · 流程控制
SmartTest编程语言
11
测试程序架构设计
模块化编程 · 测试项组织 · 测试组与测试流控制
测试程序架构设计模块化编程
12
测试夹具与负载板设计
负载板原理 · DUT接口设计 · 去耦电容布局
测试夹具负载板设计
13
校准与自检
V93000系统校准原理 · 校准流程 · 自检程序运行与故障诊断
校准自检
14
测试调试方法
常见调试工具使用 · 波形查看 · 失败分析
测试调试方法常见调试工具使用
15
良率分析与测试优化
良率计算 · 测试时间优化 · 并行测试策略
良率分析测试优化
16
多工位并行测试
多DUT并行测试原理 · 资源分配 · 并行测试程序开发与同步问题
多工位并行测试DUT
17
模拟与混合信号测试
V93000模拟通道配置 · 运放/ADC/DAC等模拟器件的测试…
模拟混合信号测试
18
射频测试基础
V93000射频测试模块 · S参数测试 · 功率与频率测量
射频测试基础V93000
19
存储器测试
存储器测试算法（March · Checkerboard等） · V93000存储器测试方案
存储器测试March
20
系统级测试与ATE集成
系统级测试概念 · ATE与其他设备（温控 · 机械手）的集成
ATE系统级测试
21
测试数据管理
测试数据格式 · 数据库存储 · 数据分析与报告生成
测试数据管理测试数据格式
22
测试程序版本控制与维护
版本管理工具使用 · 程序变更管理 · 回归测试与文档化
测试程序版本控制维护
23
常见问题与故障排除
硬件故障 · 软件异常 · 测试结果异常等常见问题的诊断与解决
常见问题故障排除
24
案例实战
数字逻辑芯片测试开发全流程实战（从规…
案例实战数字逻辑芯片测试…
25
案例实战
电源管理芯片（PMIC）测试开发实战 · 包括DC-DC · LDO等测试项
案例实战PMIC
26
案例实战
高速接口芯片测试开发实战 · 涉及高速数字信号测试与眼图测量
案例实战高速接口芯片测试…
27
案例实战
混合信号芯片测试开发实战 · 包括ADC/DAC的静态与动态参数测…
案例实战混合信号芯片测试…
28
测试开发效率提升
代码复用 · 模板化开发 · 自动化脚本
测试开发效率提升代码复用
29
V93000高级功能
Pattern Burst · Multi-Site并行 · 动态电源控制
V93000高级功能
30
综合项目与认证
综合测试开发项目实践 · 课程总结 · 常见认证考试介绍与职业发展路径
综合项目认证