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ASIC可测试性设计 IEEE 1687 IJTAG嵌入式仪器访问

共计 30 章节
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01
课程导入
学习目标 · 课程大纲 · IEEE 1687/IJTAG背景与…
课程导入学习目标
02
可测试性设计基础
DFT基本概念 · 故障模型 · 测试成本
可测试性设计基础DFT
03
传统JTAG (IEEE 1149.1) 回顾
TAP状态机 · 指令寄存器 · 数据寄存器
JTAGIEEE
04
从JTAG到IJTAG
IEEE 1687的动机 · 与1149.1的差异 · 嵌入式仪器访问需求
JTAGIJTAG
05
IJTAG核心架构
TAP网络 · Segment Insertion… · TDR (Test Data Reg…
IJTAG核心架构
06
IEEE 1687标准详解
ICL (Instrument Co…
IEEE1687标准详解
07
ICL建模实践
用ICL描述仪器 · 扫描链 · SIB
ICL建模实践
08
PDL编程入门
PDL操作（read/write/i… · 流程控制 · 与ICL的协同
PDL编程入门
09
IJTAG网络设计
链式 · 星型 · 混合拓扑
IJTAG网络设计
10
扫描链优化
扫描链长度 · 插入位置 · 时钟域处理
扫描链优化扫描链长度
11
仪器访问协议
如何通过TAP访问多个嵌入式仪器 · 避免冲突 · 实现并行与串行访问
仪器访问协议TAP
12
IEEE 1687工具链
EDA工具支持（如Synopsys · Cadence · Mentor）
IEEE1687工具链
13
IJTAG与SoC测试
在SoC中集成IJTAG · 管理多个IP核的测试访问
IJTAGSoC
14
案例实战
设计一个包含3个仪器的IJTAG网络 · 编写ICL和PDL · 完成仿真验证
案例实战IJTAG
15
IJTAG与BIST
内建自测试与IJTAG结合 · 实现片上测试调度
IJTAGBIST
16
IJTAG与功能安全
在汽车 · 航空等安全关键领域的应用 · 故障注入与诊断
IJTAG功能安全
17
IJTAG与可制造性测试
晶圆测试 · 封装测试中的仪器访问策略
IJTAG可制造性测试
18
IJTAG与调试
芯片调试 · 实时监测 · 后硅验证中的嵌入式仪器使用
IJTAG调试
19
IEEE 1687与IEEE 1500、IEEE 1149.1的协同
多标准兼容设计
IEEE1687
20
常见问题与陷阱
SIB配置错误 · 时钟域跨越 · PDL时序问题
常见问题陷阱
21
IJTAG性能评估
访问时间 · 带宽 · 功耗开销的量化分析方法
IJTAG性能评估
22
高级ICL特性
参数化仪器 · 分层描述 · 复用与库管理
ICL高级
23
高级PDL特性
循环 · 条件 · 子程序
PDL高级
24
IJTAG验证方法学
形式化验证 · 仿真验证 · 覆盖率分析
IJTAG验证方法学
25
自动化流程
从RTL到IJTAG网表的自动生成 · 脚本与流程集成
自动化流程RTL
26
案例实战
基于开源IJTAG核（如OpenCo… · 完成实际仪器访问
案例实战IJTAG
27
IJTAG在3D IC与先进封装中的应用
TSV测试 · 堆叠芯片的仪器访问
IJTAGIC
28
未来趋势
IEEE 1687.1 · 可重构仪器 · AI辅助测试
未来趋势IEEE
29
综合项目
设计一个完整的IJTAG测试系统 · 包括架构 · ICL/PDL
综合项目IJTAG
30
课程总结与进阶路径
知识体系回顾 · 常见认证 · 推荐书籍与
课程总结进阶路径