3. 被测终端与测试环境搭建
一致性验证的起点不是仪表，而是被测终端（DUT）与测试环境之间的物理与电气接口。射频一致性测试对链路损耗、阻抗匹配、屏蔽度、供电稳定度和温度都有明确要求，任何一处偏差都会直接反映到发射功率、EVM、杂散或接收灵敏度的测量结果上。本节围绕 DUT 连接、射频链路配置、屏蔽与暗室、供电与温控、SIM/USIM 模拟以及 OTA 参考天线环境六个方面，说明实际搭建时应如何做、关键参数如何确定、结果如何判断。
DUT 连接方式与射频端口选择
DUT 与测试系统的连接分为传导（Conducted）与辐射（Radiated/OTA）两类。传导测试通过射频同轴电缆直接连接 DUT 的射频端口，链路损耗可控、重复性好，是 3GPP TS 34.121、TS 38.521 等大部分射频一致性项目的首选方式；OTA 测试则通过天线辐射建立链路，用于验证整机辐射性能，如 TS 34.114、TS 38.101-2 中的球面覆盖要求。
连接 DUT 前需确认射频端口类型与阻抗。手机类终端常见为 50 Ω 的 U.FL、MMCX 或专用测试座，模组类终端可能直接引出 SMA 或 IPEX 座。若 DUT 只有天线馈点而无标准连接器，需使用厂商提供的射频测试夹具或同轴转接座，并注意夹具本身引入的插损与驻波。连接时应先断电、佩戴防静电手环，避免静电损伤射频前端；拧紧力矩一般控制在 0.5～0.9 N·m，过紧会损坏连接器，过松则引入反射。
对于支持多频段、多天线的终端，需明确每个测试项目对应的射频端口与天线路径。例如 LTE 主集发射通常走主天线端口，分集接收走辅天线端口，MIMO 测试则需同时连接多个端口。建议在测试前建立一张端口映射表，记录频段、发射/接收、端口编号与线缆编号，避免测试中反复确认。
射频线缆与衰减器配置
射频链路的核心是控制从 DUT 端口到仪表端口的整体损耗，并保证阻抗连续。链路通常由同轴电缆、衰减器、功分器、开关矩阵和连接器组成。电缆应选用低损耗、相位稳定的型号，如 Sucoflex 100 或同等规格，工作频率覆盖到测试频段上限（如 6 GHz 或 40 GHz）。
衰减器的作用有三：一是将 DUT 发射的高功率降到仪表输入安全范围，二是改善阻抗匹配、减小驻波，三是提供已知的固定衰减量便于链路预算。选择衰减器时需关注功率容量、频率范围和衰减精度。例如 DUT 最大发射功率 23 dBm，仪表输入上限 30 dBm，链路电缆损耗约 2 dB，则至少需要 23 − 2 = 21 dBm 到达仪表，仍在安全范围内，但为留余量可加 10 dB 衰减器，使得到达仪表约 11 dBm。
链路损耗必须实测标定，不能仅凭标称值。常用方法是使用矢量网络分析仪或信号源加功率计，在测试频段内逐频点测量从 DUT 参考面到仪表参考面的插入损耗，形成损耗表并写入测试软件。若使用开关矩阵，还需标定每条路径的损耗。标定周期建议每季度或每次更换线缆后重新执行。
屏蔽箱与暗室要求
传导测试虽不依赖空间辐射，但 DUT 本身仍会通过机壳缝隙、连接线缆向外辐射，同时外部基站、Wi-Fi、蓝牙信号也会耦合进链路，造成杂散和灵敏度测试失真。因此传导测试通常也在屏蔽箱内进行。屏蔽箱的屏蔽效能一般要求在工作频段内不低于 80 dB，箱内壁贴吸波材料以抑制腔体谐振。DUT 应放置在箱内非金属支架上，线缆穿过屏蔽箱的馈通滤波器或波导截止管，避免直接开孔破坏屏蔽。
OTA 测试则需要微波暗室。暗室分为全电波暗室（FAR）和紧缩场（CATR）等类型，内壁铺设吸波尖劈，反射电平在静区要求低于 − 30 dB 至 − 40 dB。静区是暗室中电磁波近似平面波、幅度和相位均匀的区域，DUT 必须完全置于静区内。暗室尺寸与最低测试频率相关，频率越低，吸波材料越长，暗室越大。例如测试 700 MHz 频段，暗室通常需要数米量级。
电源与温控条件
DUT 供电应使用可编程直流电源，电压设定为终端标称值（如 3.8 V 或 4.2 V），并具备足够的电流能力（峰值可达 2～3 A）。电源纹波和瞬态响应会影响发射功率与调制质量，建议纹波低于 10 mVrms。测试中应监测 DUT 电流，异常电流往往对应功放异常或软件状态错误。
温度条件按测试规范执行。3GPP 射频一致性通常要求在 15～35 ℃ 的室温环境，部分项目要求极端温度（−10 ℃、+55 ℃）下的性能验证。温控箱应能稳定在设定温度 ±2 ℃，并在 DUT 达到热平衡后再开始测试。温度变化会影响晶振频率、功放增益和电池内阻，因此温度稳定时间通常不少于 30 分钟。
SIM 卡与 USIM 模拟
一致性测试中，DUT 需要驻留在测试仪表模拟的基站上，而鉴权、签约信息由 SIM/USIM 提供。实际搭建时有两种方式：一是使用测试白卡，写入测试所需的 IMSI、Ki、OPc 等参数；二是使用 USIM 模拟器，通过软件动态配置用户信息，便于批量测试和异常场景模拟。
使用 USIM 模拟器时，需将模拟器与 DUT 的 SIM 接口正确连接，注意电压等级（Class A 5 V、Class B 3 V、Class C 1.8 V）和时钟频率。模拟器应支持 3GPP TS 31.102 定义的 USIM 文件结构，并能响应鉴权挑战。若测试涉及 5G，还需支持 5G 鉴权流程和 SUCI 隐私标识。测试前应确认 DUT 能正常读取 IMSI、完成鉴权并建立 RRC 连接，否则后续射频测试无法进行。
参考天线与 OTA 环境搭建要点
OTA 测试中，参考天线用于建立已知的辐射参考面。参考天线应具有已知增益、方向图和极化特性，通常选用标准增益喇叭或双锥天线。测试前需对参考天线进行校准，确定其增益和相位中心，并记录在暗室坐标系中的位置。
DUT 在暗室中的定位至关重要。DUT 的参考点（如天线相位中心或机壳几何中心）应与暗室坐标系原点重合，角度误差控制在 ±1° 以内。测试时通过转台旋转 DUT，测量不同角度下的辐射功率，再积分得到总辐射功率（TRP）和总各向同性灵敏度（TIS）。极化方面，需分别测量水平极化和垂直极化，或使用双极化参考天线一次完成。
OTA 环境搭建完成后，应使用已知性能的参考终端进行验证。若参考终端的 TRP/TIS 与标称值偏差超过 1 dB，需检查暗室反射、线缆损耗、转台定位和参考天线校准。只有环境验证通过后，才能开始正式的一致性测试。
以上六个方面构成 DUT 与测试环境搭建的完整链条。实际执行时，建议按“端口确认 → 链路标定 → 屏蔽/暗室检查 → 供电温控设置 → SIM 配置 → OTA 校准 → 参考终端验证”的顺序推进，每一步都留下记录。链路损耗表、端口映射表、环境验证结果应作为测试报告的一部分归档，便于后续复现和问题追溯。