3. Anritsu测试仪表选型
在无线测试项目交付中,仪表选型是决定测试能力边界的第一道关口。选错仪表,轻则测试效率低下,重则无法覆盖验收指标,导致项目返工。Anritsu的仪表体系覆盖了从基带信号生成、射频发射分析到终端综合测试的完整链路,但不同制式对频率范围、带宽、调制方式、MIMO通道数的要求差异显著,必须按制式逐一匹配。
一、三类仪表在测试链路中的角色分工
矢量信号发生器(VSG)负责产生符合制式规范的调制信号,是接收机灵敏度、解调性能测试的激励源;频谱分析仪(SA)负责对发射信号进行频域和调制域分析,测量功率、ACLR、EVM、SEM等指标;综测仪(如MT8000A、MT8821C)则集成了信号生成与分析能力,并内置协议栈,用于终端与基站模拟器之间的信令交互测试。三者的关系可以用下面的信号链图表示:
二、按制式匹配关键参数
选型的核心不是看仪表型号高低,而是看关键参数是否覆盖目标制式的测试需求。以下按三种制式分别说明。
5G NR:FR1频段范围为410 MHz~7.125 GHz,FR2为24.25~52.6 GHz。单载波带宽最大100 MHz(FR1)和400 MHz(FR2),调制方式最高256QAM,还涉及毫米波波束赋形测试。因此VSG需要支持FR1/FR2频段、至少100 MHz调制带宽(FR2需400 MHz)、256QAM调制,以及多通道相参输出用于波束测试。频谱分析仪需要覆盖对应频段,分析带宽不低于信号带宽,并支持5G NR解调选件。综测仪方面,MT8000A支持FR1和FR2,内置5G NR协议栈,可进行SA/NSA组网下的呼叫建立、吞吐量和切换测试。
LTE:频段覆盖700 MHz~2.6 GHz,单载波带宽1.4/3/5/10/15/20 MHz,调制最高256QAM(下行)和64QAM(上行),并涉及载波聚合(CA)测试。VSG需支持LTE调制和CA场景下的多载波输出。频谱分析仪需支持LTE解调、EVM和ACLR测量。综测仪MT8821C支持LTE-A Pro,可测试CA、MIMO和吞吐量。
WLAN:802.11a/b/g/n/ac/ax/be,频段2.4 GHz、5 GHz和6 GHz。信道带宽从20 MHz到320 MHz(Wi-Fi 7),调制最高4096QAM(Wi-Fi 7)。VSG需支持WLAN调制格式和对应带宽。频谱分析仪需支持WLAN解调、EVM和频谱模板测量。WLAN测试通常不使用综测仪信令模式,而是采用VSG+SA的非信令方式,或使用专用WLAN综测仪。
三、选型决策表
下表汇总了三种制式对三类仪表的关键参数要求,可作为选型时的对照依据。表中参数为典型值,实际项目应根据具体测试规范和仪表选件确认。
| 制式 | VSG关键要求 | 频谱分析仪关键要求 | 综测仪关键要求 |
|---|---|---|---|
| 5G NR | FR1/FR2频段,100/400 MHz带宽,256QAM,多通道相参 | 覆盖FR1/FR2,分析带宽≥信号带宽,5G NR解调选件 | MT8000A,SA/NSA,FR1/FR2,协议栈,吞吐量测试 |
| LTE | 700M~2.6 GHz,20 MHz带宽,256QAM,CA多载波 | LTE解调,EVM/ACLR,CA分析 | MT8821C,LTE-A Pro,CA,MIMO,吞吐量 |
| WLAN | 2.4/5/6 GHz,320 MHz带宽,4096QAM | WLAN解调,EVM,频谱模板,320 MHz分析带宽 | 通常非信令,VSG+SA组合或专用WLAN综测仪 |
四、实操中的选型检查清单
在项目启动前,建议按以下清单逐项确认,避免因选件缺失导致测试无法执行:
- 确认目标制式和频段,核对仪表频率范围是否覆盖上下行频段。
- 确认信号带宽,核对VSG调制带宽和SA分析带宽是否足够。
- 确认调制阶数,核对仪表是否支持目标制式的最高调制方式。
- 确认MIMO通道数,若需波束赋形或空间复用测试,核对VSG/SA通道数和相参能力。
- 确认是否需要信令测试,若需要则选择综测仪并核对协议栈版本。
- 确认仪表选件是否已安装,特别是解调选件、带宽选件和制式选件。
- 确认校准状态和校准周期,射频端口和线缆需在有效校准期内。
五、典型配置示例
以一个同时需要5G NR FR1和LTE测试的终端项目为例,一种合理的配置方案是:VSG选用MG3710E,配置5G NR和LTE调制选件,频率覆盖至6 GHz;频谱分析仪选用MS2850A,配置5G NR和LTE解调选件,分析带宽至少100 MHz;综测仪选用MT8000A,配置FR1和LTE协议栈,用于信令测试。若项目还涉及WLAN,可增加WLAN调制和分析选件,或单独配置WLAN综测仪。该配置为示例方案,实际选型应根据项目测试规范和预算调整。
选型完成后,建议在正式测试前用已知良好的参考件对仪表链路进行验证,确认发射功率、EVM和ACLR等指标在预期范围内,再开始正式测试。这一步能有效排除仪表配置错误或线缆连接问题,避免将仪表问题误判为DUT问题。