首页
›
测试测量质量可靠性工程
›
017-仿真实测相关性与模型验证工程
›
《测量数据校准技术提升SPICE模型I-V与C-V拟合精度》
VIP16
本课程属于:017-仿真实测相关性与模型验证工程
测试测量质量可靠性工程 · 共 16 门相关课程,组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录
咨询 / 购买
📘
测量数据校准技术提升SPICE模型I-V与C-V拟合精度
共计 30 章节
可可资料掘金营 · 点击在线试看
01
课程导入与目标设定
目标=明确测量数据校准在SPICE模… · 梳理从原始测量到模型参数提取的完整链… · 建立精度提升的问题意识
课程导入
目标设定
02
SPICE模型I-V与C-V拟合基础
目标=介绍MOSFET/BJT等器件… · 说明拟合误差来源 · 包括测量噪声
SPICE
I-V
03
测量数据校准技术总览
目标=分类讲解偏移校准 · 增益校准 · 非线性校准
测量数据校准技术…
目标=分类讲解偏…
04
I-V测量系统误差建模
目标=分析半导体参数分析仪 · 探针台 · 开关矩阵与电缆引入的漏电流
I-V
测量系统误差建模
05
C-V测量系统误差建模
目标=讨论LCR表 · 阻抗分析仪在C-V测量中的寄生电容 · 串联电阻
C-V
测量系统误差建模
06
校准前的数据质量评估
目标=设计异常值检测 · 重复性测试 · 漂移评估与信噪比分析方法
校准前的数据质量…
目标=设计异常值…
07
偏移与增益校准实战
目标=针对I-V测量中的零点漂移和增… · 使用标准电阻 · 参考器件与分段线性修正实现校准
偏移
增益校准实战
08
非线性校准与多项式修正
目标=对测量系统的非线性响应 · 采用多项式拟合 · 样条插值与查表法进行修正
非线性校准
多项式修正
09
去嵌入技术在C-V测量中的应用
目标=讲解开路 · 短路 · 负载去嵌入方法
C-V
去嵌入技术
10
接触电阻与串联电阻校准
目标=针对I-V测量中的接触电阻和C… · 设计四线法 · 多器件外推与优化提取流程
接触电阻
串联电阻校准
11
温度相关测量数据校准
目标=分析温度对I-V和C-V测量的… · 建立温度传感器校准 · 热漂移补偿与等温测量方案
温度相关测量数据…
I-V
12
噪声抑制与滤波校准
目标=比较平均 · 中值滤波 · 锁相放大与小波去噪在I-V和C-V数…
噪声抑制
滤波校准
13
校准数据与原始数据的映射管理
目标=建立校准前后数据版本 · 元数据与可追溯性记录 · 确保SPICE模型提取过程可复现
校准数据
原始数据的映射管…
14
I-V拟合目标函数与权重设计
目标=针对校准后I-V数据 · 讨论线性/对数坐标下的残差定义 · 权重分配与鲁棒损失函数
I-V
拟合目标函数
15
C-V拟合目标函数与权重设计
目标=针对校准后C-V数据 · 分析积累区 · 耗尽区与反型区的重要性差异
C-V
拟合目标函数
16
SPICE模型参数提取流程与校准数据接口
目标=以BSIM · PSP等模型为例 · 说明如何将校准后的I-V和C-V数据…
SPICE
模型参数提取流程
17
I-V拟合精度提升案例
目标=选取实际MOSFET测量数据 · 执行系统校准 · 去噪与加权拟合
I-V
拟合精度提升案例
18
C-V拟合精度提升案例
目标=选取实际MOSFET或变容二极… · 执行寄生去嵌入 · 串联电阻修正与分段加权拟合
C-V
拟合精度提升案例
19
I-V与C-V联合拟合中的参数一致性
目标=分析阈值电压 · 迁移率 · 氧化层厚度等参数在I-V和C-V提取…
I-V
C-V
20
校准误差传播与不确定性量化
目标=建立从测量校准到模型参数的误差… · 使用蒙特卡洛或灵敏度分析评估I-V与…
校准误差传播
不确定性量化
21
多器件与统计校准
目标=针对晶圆级多器件测量 · 设计批处理校准 · 统计去偏与相关性分析流程
多器件
统计校准
22
射频与高频C-V校准专项
目标=讨论高频C-V测量中的传输线效… · 校准件选择与SOLT/TRL校准 · 确保射频SPICE模型C-V数据的准…
C-V
射频
23
脉冲I-V测量校准
目标=针对脉冲I-V测量中的瞬态效应 · 偏置网络与示波器校准 · 设计校准方案以提升先进器件SPICE…
I-V
脉冲
24
低温与极端条件下的测量校准
目标=分析低温I-V和C-V测量中的… · 接触电阻变化与仪器漂移 · 建立适用于宽温区SPICE模型提取的…
低温
极端条件下的测量…
25
校准与拟合的自动化脚本实现
目标=使用Python或专用工具编写… · 数据清洗 · 拟合与报告生成脚本
校准
拟合的自动化脚本…
26
校准质量对SPICE仿真收敛性的影响
目标=评估校准后数据提取的模型参数对… · 交流与小信号仿真收敛性的改善 · 避免因数据异常导致仿真失败
SPICE
校准质量对
27
基于校准数据的模型验证与回归测试
目标=设计独立验证集 · 执行I-V和C-V的交叉验证 · 温度扫描与工艺角测试
基于校准数据的模…
回归测试
28
先进器件测量校准挑战
目标=针对FinFET · GAA · GaN等器件
先进器件测量校准…
FinFET
29
校准技术前沿与工具链集成
目标=介绍机器学习辅助校准 · 贝叶斯优化与云平台数据管理在SPIC…
校准技术前沿
工具链集成
30
课程综合实战与总结
目标=完成一个从原始I-V/C-V测… · 拟合 · 验证与报告的全流程项目
课程综合实战
I-V/C-V
所属VIP或分类
同VIP:ADS仿真到硬件实测的EVM一致性验证
同VIP:EMI滤波器仿真与实测插损相关性工程
同VIP:EM仿真建模、实测校准与验证闭环