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010-失效分析、NDT与故障定位工程
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010-失效分析、NDT与故障定位工程
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测试测量质量可靠性工程
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01
《BIST故障诊断、良率关联与芯片故障定位工程》
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02
《RF前端异常样品拆解与失效归因》
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03
《SEM EDS与电性联合失效分析》
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04
《光刻缺陷分析与量产工艺调试工程》
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05
《半导体失效分析实验室工程》
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06
《半导体失效分析根因追溯与参数调试》
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07
《工业X射线与CT缺陷检测工程》
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08
《工艺与Mask协同失效分析工程》
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09
《无损检测NDT从入门到实战》
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10
《无损检测实战100例》
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11
《流片测试结构与故障定位工程》
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12
《渗透、磁粉与表面缺陷检测》
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13
《硬件测试故障定位与失效分析工程》
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14
《红外热成像故障定位与失效诊断工程》
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15
《红外热成像检测与异常诊断》
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16
《芯片失效分析与案例复盘工程》
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17
《超声、涡流与声发射无损检测》
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18
《高速PCB故障定位与失效分析实战》
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