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芯片良率分析结合BIST设计的测试覆盖率提升

共计 30 章节

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芯片良率基础

良率定义 · 良率与成本的关系 · 良率提升的行业挑战

芯片良率基础良率定义

泊松模型 · 负二项模型 · 复合模型及其适用场景

良率模型泊松模型

缺陷与故障机制

制造缺陷类型 · 故障物理机制 · 缺陷密度与良率映射

缺陷故障机制

测试目的 · 测试类型（功能测试 · 结构测试

测试基础测试目的

内建自测试定义 · BIST历史 · BIST在DFT中的角色

LFSR · MISR · 测试控制器

扫描链基础 · 逻辑BIST结构 · 伪随机测试生成

存储器故障模型 · March算法 · MBIST控制器设计

模拟与混合信号BIST

模拟测试挑战 · BIST for ADC/DAC · 环路测试方法

BIST设计流程

RTL集成 · 综合约束 · ATPG与BIST协同

BIST设计流程

测试覆盖率定义

故障覆盖率 · 缺陷覆盖率 · 测试质量指标

测试覆盖率定义故障覆盖率

固定故障 · 过渡故障 · 桥接故障

故障模型固定故障

覆盖率计算

基于故障模拟的覆盖率统计 · 覆盖率报告解读

覆盖率计算基于故障模拟的覆…

BIST覆盖率分析

伪随机测试的覆盖率瓶颈 · 加权随机测试 · 确定性BIST

BIST覆盖率分析

BIST与ATPG结合

混合测试策略 · ATPG向量压缩 · 片上解压缩

良率与测试覆盖率关系

测试逃逸 · 良率损失 · 测试成本权衡

良率测试覆盖率关系

良率分析工具

良率数据库 · 缺陷Pareto分析 · 良率学习循环

良率分析工具良率数据库

故障定位 · 诊断分辨率 · BIST诊断链设计

良率提升技术

冗余设计 · 修复机制 · 激光修复与BIST协同

良率提升技术冗余设计

BIST硬件开销

面积开销 · 功耗开销 · 时序影响评估

BIST硬件开销

门控时钟BIST · 低功耗LFSR · 测试模式功耗优化

BIST标准与IP

IEEE 1500 · IEEE 1687 · 商用BIST IP集成

BIST在SoC中的应用

多核BIST · 分层测试 · 测试调度

良率与可靠性

早期失效 · 老化测试 · BIST用于在线监控

良率可靠性

BIST测试时间优化

并行测试 · 测试调度算法 · 压缩技术

BIST测试时间优化

良率分析中的统计方法

SPC · Cpk · 良率预测模型

良率分析统计方法

硬件木马检测 · 安全BIST · 测试模式保护

先进工艺下的BIST挑战

FinFET · 3D IC · 异构集成

BIST先进工艺下的

某芯片良率从70%提升至95%的BI…

课程总结与未来趋势

AI辅助BIST · 自适应测试 · 良率闭环优化

课程总结未来趋势