01
AFE芯片概述
什么是AFE芯片 · 信号链位置 · 核心指标 SNR/ENOB/采样率/带宽
基础概念
02
AFE芯片分类
精密 vs 高速 · 单/多通道 · 集成 vs 分立
分类架构
03
选型方法论
需求五步法 · 选型矩阵 · 供应商生态评估
选型策略
04
关键参数详解 (上)
输入阻抗 · CMRR · PSRR · 温漂系数
参数模拟
05
关键参数详解 (下)
噪声分析 · THD · SFDR · IMD
噪声失真
06
AFE前端设计基础
单端转差分 · 抗混叠滤波器 · 输入保护
前端电路
07
参考电压与基准源
内部 vs 外部基准 · 基准噪声 · 低噪声选型
基准电源
08
时钟与采样时钟抖动
时钟抖动对SNR影响 · 低抖动方案 · 时钟分配
时钟抖动
09
电源架构与去耦
AFE电源轨 · LDO vs DC-DC · 去耦布局
电源PCB
10
PCB布局与布线要点
模拟/数字分区 · 地平面 · 关键走线规则
PCB布局
11
工业数据采集系统
PLC模拟输入模块 · 典型应用
工业PLC
12
医疗设备前端设计
心电图ECG · 脑电图EEG 前端
医疗ECG
13
能源管理 · BMS检测
电池监控 · 电流/电压检测
BMS能源
14
通信基础设施 · IF采样
基站收发信机 · 中频采样
通信IF
15
测试与测量前端
示波器前端 · 频谱分析仪
测试仪器
16
AFE芯片驱动设计
SPI/I2C配置 · 寄存器映射 · 数据读取时序
驱动数字
17
校准技术
失调/增益校准 · 温度补偿 · 数字vs模拟
校准精度
18
故障诊断与保护
过压保护 · ESD · 看门狗 · 健康监测
保护可靠性
19
多通道同步采样
同步机制 · 相位补偿 · 多片级联
同步多通道
20
低功耗设计策略
功耗模式 · 动态调节 · 电源门控
低功耗电源
21
高速AFE设计挑战
信号完整性 · 串扰 · 散热
高速SI
22
精密AFE设计挑战
1/f噪声 · 长时稳定性 · 抗工频干扰
精密噪声
23
AFE与FPGA/MCU接口
LVDS · JESD204B · 并行CMOS 对比
接口数字
24
AFE仿真与建模
IBIS模型 · SPICE仿真 · 系统级行为建模
仿真建模
25
AFE测试与验证
测试平台 · SNR/ENOB/SFDR · 自动化脚本
测试验证
26
主流AFE芯片厂商
TI(ADS) · ADI(AD) · Maxim · Microchip
厂商产品线
27
实战案例 (一)
16位250kSPS多通道数据采集系统
实战16位
28
实战案例 (二)
24位低噪声ECG前端 · 右腿驱动 · 导联脱落
实战ECG
29
实战案例 (三)
14位125MSPS中频采样接收机 · DDC接口
实战中频
30
课程总结与未来趋势
技术演进 · 软件定义 · 异构集成 · 学习资源
总结趋势