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《嵌入式硬件DFT可测试性设计与BIST验证》
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嵌入式硬件DFT可测试性设计与BIST验证
共计 30 章节
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01
课程导论
什么是可测试性设计(DFT)?为什么…
课程导论
DFT
02
嵌入式系统测试基础
嵌入式系统测试的挑战(硬件依赖 · 实时性 · 资源受限)
嵌入式系统测试基…
嵌入式系统测试的…
03
可测试性设计(DFT)核心概念
可控性(Controllabilit… · 扫描链(Scan Chain)原理 · 边界扫描(JTAG)基础
DFT
可测试性设计
04
测试点插入(Test Point Insertion, TPI)
什么是测试点?控制点与观测点的区别 · TPI对可控性和可观测性的提升 · TPI对面积和时序的影响
Test
Point
05
基于扫描的测试方法
全扫描(Full Scan)与部分扫… · 扫描触发器的类型(Muxed-D · Clocked-Scan)
基于扫描的测试方…
Full
06
内建自测试(BIST)基础
BIST的概念与架构(TPG · ORA · BIST Controller)
BIST
内建自测试
07
边界扫描与JTAG
IEEE 1149.1标准详解 · TAP控制器与指令寄存器 · 边界扫描寄存器(BSR)的应用
JTAG
边界扫描
08
测试压缩技术
测试数据量膨胀的问题 · 基于LFSR的测试压缩 · X-tolerant压缩
测试压缩技术
测试数据量膨胀的…
09
DFT对功耗的影响
测试模式下的功耗问题(shift p… · 低功耗扫描链设计(门控时钟 · 数据门控)
DFT
对功耗的影响
10
DFT对性能的影响
扫描链插入对路径延迟的影响 · 测试模式下的时序违例 · DFT对芯片良率的影响分析
DFT
对性能的影响
11
DFT驱动的性能优化(上)
利用扫描链进行硅后调试(Post-S… · 基于扫描的时序诊断 · 关键路径的测试与优化
DFT
驱动的性能优化
12
DFT驱动的性能优化(下)
基于BIST的在线性能监测 · 自适应电压频率调节(AVFS)中的D… · DFT数据驱动的性能调优闭环
DFT
驱动的性能优化
13
DFT驱动的功耗优化(上)
测试向量优化降低动态功耗 · 低功耗BIST设计 · 测试调度中的功耗均衡
DFT
驱动的功耗优化
14
DFT驱动的功耗优化(下)
基于DFT的漏电功耗监测 · 功耗感知的测试点插入 · 利用边界扫描进行功耗 profili…
DFT
驱动的功耗优化
15
测试成本分析
测试时间与测试成本的关系 · ATE(自动测试设备)成本 · DFT对测试成本的影响
测试成本分析
测试时间
16
DFT与功能安全(ISO 26262)
功能安全对测试的要求 · 故障覆盖率与诊断覆盖率 · 安全机制中的DFT(如LBIST f…
DFT
ISO
17
DFT与可靠性
老化测试(Burn-in Test)… · 在线故障检测与恢复 · DFT对产品平均无故障时间(MTTF…
DFT
可靠性
18
嵌入式处理器中的DFT实践
ARM Cortex-M系列中的DF… · RISC-V处理器的DFT设计 · 处理器测试的挑战与解决方案
DFT
嵌入式处理器
19
SoC中的DFT集成
层次化DFT设计(Core-leve… · 跨时钟域测试 · 模拟与混合信号电路的DFT
SoC
DFT
20
DFT设计流程与工具
Synopsys DFT Compi… · Mentor Tessent · Cadence Modus DFT工…
DFT
设计流程
21
测试向量生成(ATPG)
ATPG算法基础(D算法 · PODEM · FAN)
ATPG
测试向量生成
22
测试覆盖率分析与提升
故障仿真与覆盖率计算 · 未覆盖故障的分析方法 · 通过DFT提升覆盖率的具体策略
测试覆盖率分析
提升
23
DFT与物理设计(PD)的交互
扫描链的物理实现(Scan Chai… · 时钟树综合对扫描的影响 · DFT对布局布线的约束
DFT
PD
24
DFT验证与sign-off
DFT规则的检查(DRC) · 测试模式的功能验证 · DFT sign-off check…
DFT
sign-off
25
基于DFT的良率分析
良率损失的DFT相关原因 · 基于扫描的良率诊断 · DFT数据驱动的良率提升方法
DFT
基于
26
DFT在AI芯片中的应用
AI加速器中的DFT挑战 · 高带宽存储器(HBM)的测试 · 神经网络处理器的BIST设计
DFT
AI
27
DFT在物联网(IoT)设备中的应用
低功耗与低成本约束下的DFT选择 · 无线连接模块的测试 · IoT设备的在线测试策略
DFT
IoT
28
DFT在汽车电子中的应用
ADAS芯片的DFT要求 · 车规级测试标准(AEC-Q100) · 功能安全与DFT的融合实践
DFT
汽车电子
29
DFT前沿技术
机器学习在DFT中的应用 · 自适应测试 · 基于IEEE 1687(IJTAG)…
DFT
前沿技术
30
课程总结与实战项目
课程知识体系回顾 · 一个完整的DFT驱动优化实战案例(从… · 未来学习路径与资源推荐
课程总结
实战项目
所属VIP或分类
同VIP:嵌入式可测试性分层架构与Mock测试体系
同VIP:嵌入式可测试架构与高内聚模块重构
同VIP:嵌入式实时系统状态机框架与代码复用