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半导体工艺与制造设备
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033-半导体良率提升
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《良率监控:良率报告自动化生成与异常波动根因追溯方法》
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良率监控:良率报告自动化生成与异常波动根因追溯方法
共计 30 章节
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01
良率监控概述
良率定义 · 良率在制造业中的重要性 · 良率监控的目标与挑战
良率监控概述
良率定义
02
良率指标体系
CPK · DPPM · FPY
良率指标体系
CPK
03
数据采集与清洗
良率数据来源(MES · EAP · 测试机)
数据采集
清洗
04
良率报告自动化设计
报告模板设计 · 自动化流程架构 · Python自动化框架选型
良率报告自动化设…
报告模板设计
05
Python数据处理基础
Pandas库入门 · DataFrame操作 · 数据聚合与透视表
Python
数据处理基础
06
Python可视化基础
Matplotlib与Plotly库… · 良率趋势图 · 帕累托图绘制
Python
可视化基础
07
自动化报告生成(Excel篇)
使用openpyxl库生成带图表的E…
Excel
自动化报告生成
08
自动化报告生成(PDF篇)
使用ReportLab或FPDF库生…
PDF
自动化报告生成
09
自动化报告生成(HTML/邮件篇)
使用Jinja2模板生成HTML报告 · 并通过smtplib自动发送邮件
HTML
自动化报告生成
10
定时任务调度
使用Windows任务计划程序 · Linux Crontab · Python APScheduler…
定时任务调度
Windows
11
异常波动定义与分类
良率异常的类型(系统性 · 随机性 · 周期性)
异常波动定义
分类
12
统计过程控制(SPC)基础
控制图原理 · 均值-极差图 · P图
SPC
统计过程控制
13
异常检测算法(规则引擎)
基于3σ · Western Electric R…
异常检测算法
规则引擎
14
异常检测算法(机器学习)
孤立森林 · LOF · One-Class SVM在良率异常…
异常检测算法
机器学习
15
根因追溯方法论
5Why分析法 · 鱼骨图 · 因果矩阵在良率问题分析中的应用
根因追溯方法论
Why
16
相关性分析
皮尔逊相关系数 · 斯皮尔曼相关系数 · 热力图在根因追溯中的应用
相关性分析
皮尔逊相关系数
17
假设检验
T检验 · 卡方检验 · ANOVA在判断工艺参数与良率关系中…
假设检验
T检验
18
决策树与随机森林
使用决策树挖掘影响良率的关键工艺参数
决策树
随机森林
19
SHAP值解释
使用SHAP库解释机器学习模型 · 定位影响良率波动的关键特征
SHAP
值解释
20
根因追溯自动化流程
设计从异常检测到根因定位的端到端自动…
根因追溯自动化流…
设计从异常检测到…
21
案例实战1
半导体晶圆良率监控与报告自动化(数据…
案例实战1
半导体晶圆良率监…
22
案例实战2
SMT贴片良率异常波动分析与根因追溯…
案例实战2
SMT
23
案例实战3
锂电池制造良率报告与SPC监控看板(…
案例实战3
SPC
24
数据可视化看板
使用Dash或Streamlit构建…
数据可视化看板
Dash
25
数据库集成
将良率数据存入MySQL/Postg… · 使用SQL进行高效查询与聚合
数据库集成
MySQL/Postg
26
API接口开发
使用Flask/FastAPI构建良…
API
接口开发
27
版本控制与协作
使用Git管理良率监控代码 · 实现团队协作与CI/CD
版本控制
协作
28
系统部署与运维
将良率监控系统部署到服务器 · 使用Docker容器化
系统部署
运维
29
良率监控最佳实践
数据质量保障 · 告警阈值设置 · 报告频率优化
良率监控最佳实践
数据质量保障
30
课程总结与未来展望
AI在良率预测与根因追溯中的前沿应用 · 课程知识图谱回顾
课程总结
未来展望
所属VIP或分类
同VIP:半导体良率提升与缺陷分析实战图文详解
同VIP:良率优化:良率优化方案在工艺窗口拓展中的参数调优
同VIP:良率基线:成熟工艺良率基线建立与迁移方法实战