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半导体工艺与制造设备
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033-半导体良率提升
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《良率改善:良率改善流程优化与效果评估实战案例》
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良率改善:良率改善流程优化与效果评估实战案例
共计 30 章节
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01
良率基础概念
良率定义 · 良率分类(CP/FT良率) · 良率与成本的关系
良率基础概念
良率定义
02
良率改善核心指标
DPU · DPMO · RTY
良率改善核心指标
DPU
03
良率数据采集体系
MES系统 · EAP系统 · 数据采集频率与清洗规则
良率数据采集体系
MES
04
良率数据可视化
使用Python/Pandas进行良… · Pareto图 · 箱线图绘制
良率数据可视化
Python/Panda…
05
缺陷分类与编码
缺陷模式定义 · 缺陷代码体系建立 · 缺陷严重度分级
缺陷分类
编码
06
鱼骨图分析法
人机料法环测(5M1E)在良率分析中…
鱼骨图分析法
M1E
07
FMEA失效模式分析
DFMEA与PFMEA的建立流程 · RPN优先级排序
FMEA
失效模式分析
08
SPC统计过程控制
控制图(Xbar-R · P图 · U图)的选型与判异准则
SPC
统计过程控制
09
假设检验在良率中的应用
T检验 · 卡方检验在工艺参数对比中的实战
假设检验
良率
10
方差分析(ANOVA)
单因子与多因子ANOVA在工艺优化中…
ANOVA
方差分析
11
相关性分析与回归分析
Pearson相关系数 · 线性回归预测良率
相关性分析
回归分析
12
DOE实验设计
全因子设计 · 部分因子设计 · 响应曲面法在工艺优化中的案例
DOE
实验设计
13
良率改善流程(DMAIC)
定义 · 测量 · 分析
DMAIC
良率改善流程
14
定义阶段(D)
项目章程 · SIPOC图 · 客户关键需求(CTQ)转化
定义阶段
D
15
测量阶段(M)
测量系统分析(MSA) · GR&R · 数据收集计划
测量阶段
M
16
分析阶段(A)
多变量分析 · C&E矩阵 · FMEA与假设检验结合
分析阶段
A
17
改进阶段(I)
头脑风暴 · 方案筛选 · DOE验证
改进阶段
I
18
控制阶段(C)
控制计划 · 标准化作业 · SPC监控
控制阶段
C
19
良率改善团队组建
RACI矩阵 · 跨部门协作机制 · 会议节奏
良率改善团队组建
RACI
20
良率改善项目管理
甘特图 · 里程碑 · 风险登记册
良率改善项目管理
甘特图
21
良率改善案例1
SMT贴片焊接不良率降低(从5000…
良率改善案例1
SMT
22
良率改善案例2
半导体晶圆划片崩边缺陷改善(Cpk从…
良率改善案例2
Cpk
23
良率改善案例3
组装线螺丝锁付滑牙率降低(使用DOE…
良率改善案例3
DOE
24
良率改善案例4
注塑成型缩水缺陷改善(模流分析与工艺…
良率改善案例4
注塑成型缩水缺陷…
25
良率改善效果评估方法
假设检验对比改善前后 · 效果持续性验证
良率改善效果评估…
假设检验对比改善…
26
良率改善财务收益计算
COPQ(劣质成本)降低 · 投资回报率(ROI)计算
良率改善财务收益…
COPQ
27
良率改善报告撰写
A3报告 · 8D报告 · 改善前后对比图表
良率改善报告撰写
A3
28
良率改善文化构建
全员改善提案 · QCC品管圈 · 表彰机制
良率改善文化构建
全员改善提案
29
数字化良率管理平台
实时监控看板 · 自动报警 · AI缺陷分类
数字化良率管理平…
实时监控看板
30
良率改善未来趋势
大数据预测 · 数字孪生 · 智能工艺自优化
良率改善未来趋势
大数据预测
所属VIP或分类
同VIP:半导体良率提升与缺陷分析实战图文详解
同VIP:良率优化:良率优化方案在工艺窗口拓展中的参数调优
同VIP:良率基线:成熟工艺良率基线建立与迁移方法实战