VIP20
本课程属于：033-半导体良率提升 半导体工艺与制造设备 · 共 20 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

良率损失分析：跨部门良率损失分析协作流程设计

共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域
01
课程导论
良率损失的定义与重要性 · 跨部门协作的必要性 · 课程目标与学习路径
课程导论良率损失的定义
02
良率基础概念
良率（Yield） · 缺陷密度（D0） · 关键面积（Critical Area…
良率基础概念Yield
03
良率损失分类
系统性损失（Systematic）与…
良率损失分类Systematic
04
跨部门协作痛点
信息孤岛 · 责任推诿 · 沟通语言不一致
跨部门协作痛点信息孤岛
05
协作流程总览
从问题发现到闭环的跨部门协作全生命周…
协作流程总览从问题发现到闭环…
06
角色与职责定义
工艺工程师 · 设备工程师 · 设计工程师
角色职责定义
07
数据采集与共享机制
EDA数据 · 测试数据 · 缺陷检测数据（KLA/AMAT）的标…
数据采集共享机制
08
良率损失报告模板
标准化的良率日报/周报格式 · 包含损失帕累托图（Pareto Ch…
良率损失报告模板标准化的良率日报
09
问题触发与升级机制
基于阈值（Threshold）的自动… · 严重等级定义（Critical/Ma…
问题触发升级机制
10
跨部门会议机制
每日晨会（Daily Stand-u… · 周度良率评审会（Weekly Yie… · 专项攻关会议（Task Force）
跨部门会议机制Daily
11
根本原因分析（RCA）协作
5Why分析法 · 鱼骨图（Ishikawa）在跨部门团…
RCA根本原因分析
12
实验设计（DOE）协作
跨部门制定DOE计划 · 资源协调 · 数据收集与结果共享
DOE实验设计
13
缺陷根因定位流程
从In-line缺陷到E-test电…
缺陷根因定位流程In-line
14
工艺窗口验证（PWQ）协作
工艺工程师与设备工程师如何共同验证工…
PWQ工艺窗口验证
15
设计-工艺协同优化（DFM）
设计规则检查（DRC） · 光刻热点（Litho Hotspot…
DFM设计
16
良率损失数据库建设
建立历史良率损失案例库（Lesson… · 包含根因与解决方案
良率损失数据库建…Lesson
17
协作工具与平台
JIRA/Confluence用于任… · Tableau/PowerBI用于可… · Slack/Teams用于即时沟通
协作工具平台
18
数据安全与权限管理
不同部门数据访问权限的设定原则（RB… · 避免数据泄露
数据安全权限管理
19
关键绩效指标（KPI）设定
跨部门协作效率指标（如平均问题解决时… · 问题关闭率）
KPI关键绩效指标
20
沟通技巧与冲突解决
跨部门沟通中的非暴力沟通（NVC） · 利益相关者管理（Stakeholde…
沟通技巧冲突解决
21
案例实战一
金属残留（Metal Residue…
案例实战一Metal
22
案例实战二
光刻对准偏移（Overlay Shi…
案例实战二Overlay
23
案例实战三
栅氧化层击穿（GOI）问题——质量与…
案例实战三GOI
24
案例实战四
设计规则违例（DRC Violati…
案例实战四DRC
25
流程文档化与标准化
SOP（标准作业程序）的编写规范 · 版本控制与培训
流程文档化标准化
26
持续改进机制
PDCA循环在跨部门良率协作中的应用 · 定期复盘（Retrospective…
持续改进机制PDCA
27
自动化与智能化趋势
AI辅助缺陷分类（ADC） · 自动根因分析（Auto-RCA）对协…
自动化智能化趋势
28
跨部门协作文化建设
建立信任 · 共享成功 · 鼓励透明沟通的组织文化
跨部门协作文化建…建立信任
29
课程总结
核心知识点回顾 · 常见误区与避坑指南
课程总结核心知识点回顾
30
结业考核与行动计划
模拟跨部门良率损失分析场景 · 制定个人/团队改进行动计划
结业考核行动计划