首页
›
半导体工艺与制造设备
›
029-半导体SPICE模型
›
《半导体SPICE模型故障排查:PN结电容提取与验证》
VIP20
本课程属于:029-半导体SPICE模型
半导体工艺与制造设备 · 共 20 门相关课程,组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录
咨询 / 购买
半导体SPICE模型故障排查:PN结电容提取与验证
共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程:100+行业、1000+细分领域
01
PN结物理基础
耗尽层近似 · 内建电势Vbi · 平衡态能带图
PN
结物理基础
02
SPICE模型概述
二极管模型(D模型)参数解析(IS · N · BV
SPICE
模型概述
03
零偏电容CJO提取
CV测量原理 · CJO与面积的关系
CJO
零偏电容
04
梯度因子M提取
CV曲线拟合 · M对电容-电压特性的影响
梯度因子M提取
CV
05
内建电势VJ提取
1/C² vs V曲线外推法 · VJ的物理意义
VJ
内建电势
06
耗尽层电容模型
Cj = CJO / (1 - V/…
耗尽层电容模型
Cj
07
扩散电容模型
扩散电容Cd = τ * gm · 小信号模型中的电容分量
扩散电容模型
Cd
08
大信号瞬态电容
电荷控制模型 · 反向恢复时间与电容的关系
大信号瞬态电容
电荷控制模型
09
SPICE .MODEL语句
二极管模型定义 · 参数赋值语法
SPICE
MODEL
10
DC扫描仿真
设置Vsource扫描 · 测量结电容的间接方法
DC
扫描仿真
11
AC小信号分析
.AC语句设置 · 提取Y参数计算电容
AC
小信号分析
12
瞬态分析提取电容
.TRAN语句 · 电流积分法求电荷变化
瞬态分析提取电容
TRAN
13
参数提取工具
优化算法(Levenberg-Mar… · 拟合CV曲线
参数提取工具
Levenberg-Ma…
14
模型验证流程
提取参数 -> 仿真 -> 对比实测…
模型验证流程
提取参数
15
温度效应
温度对VJ · CJO的影响 · SPICE中的温度参数(T_ABS
温度效应
VJ
16
工艺角分析
FF/SS/TT角下的电容变化 · 蒙特卡洛仿真
工艺角分析
FF/SS/TT
17
寄生电容去嵌
Open/Short结构去嵌 · Pad电容扣除
寄生电容去嵌
Open/Short
18
高频模型
串联电阻Rs · 寄生电感Ls对电容提取的影响
高频模型
Rs
19
反向偏置特性
击穿电压BV · 漏电流IS对电容测量的干扰
反向偏置特性
BV
20
正向偏置特性
大注入效应 · 串联电阻对扩散电容的影响
正向偏置特性
大注入效应
21
变容二极管建模
C-V特性调谐 · SPICE模型参数调优
变容二极管建模
C-V
22
PIN二极管电容
I层宽度对电容的影响 · SPICE子电路建模
PIN
二极管电容
23
肖特基二极管电容
势垒电容差异 · M值提取注意事项
肖特基二极管电容
势垒电容差异
24
MOS电容对比
MOS栅电容与PN结电容的物理区别
MOS
电容对比
25
SPICE网表编写
子电路定义 · 参数传递 · .PARAM语句
SPICE
网表编写
26
脚本自动化提取
Python + PySpice 批… · M · VJ
脚本自动化提取
Python
27
常见故障1
CJO提取值偏大——排查寄生电容与测…
常见故障1
CJO
28
常见故障2
M值异常(>0.5或<0.3)——检…
常见故障2
M值异常
29
常见故障3
VJ提取为负值——检查数据极性 · 接触电势差
常见故障3
VJ
30
综合案例
从实测CV数据到完整SPICE模型生…
综合案例
CV
所属VIP或分类
同VIP:BSIM模型参数优化:模型验证方法与工程测试
同VIP:BSIM模型参数校准:MOSFET建模与性能验证
同VIP:MOSFET建模:SPICE模型原理与模型验证方法