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先进材料、材料计算与可靠性工程
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007-半导体晶圆与宽禁带材料
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《硅晶圆材料评价与可靠性工程》
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硅晶圆材料评价与可靠性工程
共计 30 章节
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01
硅晶圆材料评价与可靠性工程导论
目标=课程定位 · 硅晶圆在集成电路制造中的核心作用 · 材料评价与可靠性工程的基本内涵
硅晶圆材料评价
可靠性工程导论
02
硅晶圆材料基础与制造流程
目标=单晶硅生长方法 · 切片 · 研磨
硅晶圆材料基础
制造流程
03
硅晶圆关键材料参数与评价指标体系
目标=晶向 · 电阻率 · 载流子寿命
硅晶圆关键材料参…
评价指标体系
04
晶体缺陷与微观结构评价
目标=点缺陷 · 位错 · 层错
晶体缺陷
微观结构评价
05
硅晶圆表面与界面表征技术
目标=原子力显微镜 · 扫描电子显微镜 · 椭偏仪
硅晶圆表面
界面表征技术
06
电学性能评价方法与测试结构
目标=四探针法 · 霍尔效应 · 电容-电压法
电学性能评价方法
测试结构
07
硅晶圆化学纯度与沾污评价
目标=金属沾污 · 有机沾污 · 颗粒沾污的来源与危害
硅晶圆化学纯度
沾污评价
08
硅晶圆几何与机械性能评价
目标=厚度 · 总厚度变化 · 弯曲度
硅晶圆几何
机械性能评价
09
硅晶圆热性能与热氧化可靠性
目标=热导率 · 热膨胀系数 · 热应力
硅晶圆热性能
热氧化可靠性
10
硅晶圆可靠性工程基础
目标=可靠性定义 · 失效模式与机理 · 加速寿命试验
硅晶圆可靠性工程…
目标=可靠性定义
11
硅晶圆失效分析技术与案例
目标=光学显微镜 · 扫描电镜 · 透射电镜
硅晶圆失效分析技…
案例
12
硅晶圆原生缺陷与器件漏电关联评价
目标=原生点缺陷 · 氧沉淀 · 金属杂质诱生缺陷等对漏电流
硅晶圆原生缺陷
器件漏电关联评价
13
硅晶圆外延层评价与可靠性
目标=外延层厚度 · 电阻率 · 缺陷
硅晶圆外延层评价
可靠性
14
绝缘体上硅晶圆材料评价
目标=SOI晶圆结构 · 埋氧层质量 · 顶层硅缺陷
绝缘体上硅晶圆材…
SOI
15
硅晶圆清洗工艺与洁净度可靠性评价
目标=清洗原理 · 常用清洗液 · 颗粒去除效率
硅晶圆清洗工艺
洁净度可靠性评价
16
硅晶圆平坦化工艺与表面完整性评价
目标=化学机械抛光原理 · 抛光液与抛光垫 · 平坦化效率
硅晶圆平坦化工艺
表面完整性评价
17
硅晶圆离子注入与退火后的材料评价
目标=注入损伤 · 掺杂激活 · 退火工艺对缺陷与杂质分布的影响
硅晶圆离子注入
退火后的材料评价
18
硅晶圆薄膜沉积与界面可靠性评价
目标=热氧化 · 化学气相沉积 · 物理气相沉积等薄膜的厚度
硅晶圆薄膜沉积
界面可靠性评价
19
硅晶圆光刻与刻蚀工艺中的材料评价
目标=光刻胶涂覆 · 曝光 · 显影对硅片表面的影响
硅晶圆光刻
刻蚀工艺
20
硅晶圆金属化与互连可靠性评价
目标=金属薄膜应力迁移 · 电迁移 · 腐蚀
硅晶圆金属化
互连可靠性评价
21
硅晶圆封装前的可靠性测试与筛选
目标=晶圆级可靠性测试 · 老化筛选 · 温度循环
硅晶圆封装前的可…
筛选
22
硅晶圆环境可靠性评价
目标=温湿度 · 温度循环 · 机械振动
硅晶圆环境可靠性…
目标=温湿度
23
硅晶圆长期存储与运输可靠性评价
目标=存储环境对硅片表面氧化 · 沾污 · 静电损伤的影响
硅晶圆长期存储
运输可靠性评价
24
硅晶圆可靠性数据统计与分析
目标=可靠性数据采集 · 整理 · 分布拟合
硅晶圆可靠性数据…
分析
25
硅晶圆材料评价标准与规范
目标=SEMI · JEDEC · ISO等国际标准
硅晶圆材料评价标…
规范
26
硅晶圆在线检测与智能评价系统
目标=自动光学检测 · 自动缺陷分类 · 机器学习在缺陷识别与可靠性预测中的应…
硅晶圆
线检测
27
硅晶圆材料评价与可靠性工程实战项目一
目标=针对特定器件需求 · 制定硅晶圆材料评价方案 · 包括取样
硅晶圆材料评价
可靠性工程实战项…
28
硅晶圆材料评价与可靠性工程实战项目二
目标=基于失效分析案例 · 完成从失效现象到根因定位的全过程 · 提出材料改进与可靠性提升措施
硅晶圆材料评价
可靠性工程实战项…
29
硅晶圆材料评价与可靠性工程实战项目三
目标=设计加速寿命试验方案 · 评估硅晶圆在典型应力下的可靠性 · 进行寿命预测与置信度分析
硅晶圆材料评价
可靠性工程实战项…
30
硅晶圆材料评价与可靠性工程前沿与展望
目标=新型硅基材料 · 三维集成 · 异质集成
硅晶圆材料评价
可靠性工程前沿
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