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MVTec MERLIC产线缺陷检测系统快速开发

共计 30 章节
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01
课程导入与MERLIC定位
目标=产线缺陷检测的典型需求 · MERLIC在机器视觉软件中的角色 · 快速开发的核心价值
MERLIC课程导入
02
MERLIC开发环境搭建
目标=软件安装与授权配置 · 界面布局与工作区 · 相机与图像源接入
MERLIC开发环境搭建
03
MERLIC核心概念与数据流
目标=工具 · 工具链 · 配方
MERLIC核心概念
04
图像采集与相机配置
目标=工业相机接口类型 · GigE/USB3相机连接 · 曝光与增益调节
图像采集相机配置
05
图像预处理工具链
目标=灰度变换 · 滤波去噪 · 形态学操作
图像预处理工具链目标=灰度变换
06
定位与对齐工具
目标=模板匹配 · 形状匹配 · 特征点定位
定位对齐工具
07
缺陷检测常用工具
目标=斑点分析 · 边缘检测 · 卡尺测量
缺陷检测常用工具目标=斑点分析
08
测量与判定逻辑
目标=尺寸测量 · 距离与角度计算 · 公差判定
测量判定逻辑
09
MERLIC状态机与流程控制
目标=状态与转换 · 条件分支 · 循环与等待
MERLIC状态机
10
配方管理与多产品切换
目标=配方概念 · 参数集管理 · 产品型号切换
配方管理多产品切换
11
结果输出与通信接口
目标=数字IO输出 · PLC通信 · TCP/IP与Modbus
结果输出通信接口
12
用户界面与操作员交互
目标=MERLIC前端界面定制 · 结果显示 · 操作按钮
用户界面操作员交互
13
第一个完整缺陷检测项目
目标=从图像采集到结果输出的端到端流… · 划痕检测案例 · 项目调试与验证
第一个完整缺陷检…目标=从图像采集…
14
表面缺陷检测实战
目标=脏污 · 凹坑 · 色差
表面缺陷检测实战目标=脏污
15
尺寸与装配缺陷检测实战
目标=缺失零件 · 错装 · 位置偏移
尺寸装配缺陷检测实战
16
字符与标识检测
目标=OCR/OCV工具 · 日期码与批次码识别 · 字符缺陷判定
字符标识检测
17
光照与成像方案设计
目标=光源类型选择 · 打光角度 · 明场与暗场
光照成像方案设计
18
标定与坐标转换
目标=像素到毫米标定 · 手眼标定基础 · 机器人抓取与检测坐标统一
标定坐标转换
19
检测稳定性与重复性验证
目标=GR&R思路 · 多次运行一致性 · 环境光与温度影响
检测稳定性重复性验证
20
误检与漏检调优
目标=阈值调整 · ROI优化 · 工具参数敏感度分析
误检漏检调优
21
MERLIC与深度学习工具协同
目标=MERLIC内置分类/异常检测… · 与外部深度学习模型的配合 · 适用场景与边界
MERLIC深度学习工具协同
22
项目性能优化
目标=图像处理速度 · 工具执行顺序 · 并行处理
项目性能优化目标=图像处理速…
23
错误处理与日志诊断
目标=常见报错类型 · 日志查看 · 工具调试
错误处理日志诊断
24
项目部署与产线集成
目标=工控机选型 · 相机安装 · 网络配置
项目部署产线集成
25
维护与版本管理
目标=项目备份 · 配方版本 · 参数变更记录
维护版本管理
26
综合项目一
目标=金属件表面缺陷检测系统 · 成像方案 · 工具链设计
综合项目一目标=金属件表面…
27
综合项目二
目标=电子元件装配缺陷检测系统 · 定位与测量 · OCR识别
综合项目二目标=电子元件装…
28
综合项目三
目标=包装产线字符与外观检测系统 · 字符识别 · 外观缺陷
综合项目三目标=包装产线字…
29
从原型到量产
目标=快速原型验证方法 · 小批量试产 · 问题收敛
从原型到量产目标=快速原型验…
30
课程总结与能力提升路径
目标=核心知识回顾 · 常见问题索引 · MERLIC学习资源
课程总结能力提升路径