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高频面试题详解：ATE测试方向

共计 30 章节

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ATE测试概述

ATE的定义 · 发展历史 · 应用领域

ATE测试概述

ATE硬件架构

测试头 · 引脚电子卡 · PMU

ATE硬件架构

测试程序开发流程

需求分析 · 测试方案设计 · 向量生成

测试程序开发流程需求分析

数字测试基础

电平 · 时序 · 格式（NRZ

数字测试基础电平

VIH · VIL · VOH

建立时间 · 保持时间 · 传播延迟

向量驱动 · 比较 · strobe

功能测试向量驱动

PMU（精密测量单元）使用

Force Voltage/Forc… · Force Current/Meas… · 压摆率

PMU精密测量单元

DPS（器件电源）配置

电压/电流设定 · 电流箝位 · 远程感应

DPS器件电源

时序校准与延时调整

calibration patter… · deskew · tch

时序校准延时调整

向量格式与转换

WGL · STIL · VCD

向量格式转换

扫描链测试

扫描链原理 · scan enable/scan i… · shift/capture

扫描链测试扫描链原理

ATPG与压缩测试

自动测试向量生成 · 压缩算法（MUX · XOR

ATPG压缩测试

边界扫描测试（JTAG）

IEEE 1149.1标准 · TAP控制器 · 指令寄存器

JTAG边界扫描测试

存储器测试（MBIST）

内存阵列结构 · March算法（March C- · March SR

MBIST存储器测试

混合信号测试基础

ADC/DAC测试 · 线性度（INL · DNL）

混合信号测试基础ADC/DAC

功率测量 · S参数 · 噪声系数

测试座（Handler/Prober）接口

接触电阻 · 开尔文连接 · 探针卡设计

Handler/Prob…测试座

多工位测试（Multi-Site）

并行测试策略 · 资源分配 · site-to-site一致性

Multi-Site多工位测试

高温/低温/室温测试条件 · 温度循环 · thermal chamber控制

温度测试高温

测试数据分析与良率提升

Shmoo图 · bitmap · fail率统计

测试数据分析良率提升

测试程序调试技巧

单步执行 · force点 · 断点

测试程序调试技巧单步执行

IG-XL（Teradyne）软件基础

工程结构 · pattern编辑器 · timing editor

Advantest V93000软件基础

TCL编程 · 测试套件 · waveform编辑

AdvantestV93000

STIL语言与测试格式

STIL语法 · pattern specificat… · timing specificati…

测试硬件设计（Load Board/Probe Card）

原理图设计 · 走线阻抗 · 去耦电容

LoadBoard/Probe

DFT（可测试性设计）与ATE协同

scan chain插入 · BIST控制 · 测试模式识别

测试成本的构成与优化

测试时间 · 多站点效率 · 硬件复用

测试成本的构成优化

ATE维护与校准

定期校准 · 故障排查 · 更换组件

ATE测试工程师职业发展

技能树 · 认证 · 行业趋势（如车规芯片

ATE测试工程师职业发…