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高速接口量产测试Yield实战

共计 30 章节
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01
高速接口量产测试概述
定义与重要性 · Yield概念解析 · 行业标准与趋势
高速接口量产测试…定义
02
测试开发全流程
从规格定义 · 测试计划 · 程序开发到量产释放
测试开发全流程从规格定义
03
ATE测试平台核心
Teradyne · Advantest · Chroma等主流机型特点与选型
ATE测试平台核心
04
测试模式详解
SCAN · MBIST · BIST
测试模式详解SCAN
05
高速接口测试挑战
信号完整性 · 时序收敛 · 串扰与电源噪声问题
高速接口测试挑战信号完整性
06
PCIe Gen4/Gen5 量产测试方法
链路训练 · 均衡 · 误码率测试
PCIeGen4/Gen5
07
USB3.x/4 测试要点
合规性测试 · 眼图测量 · 电源管理验证
USB3.x/4测试要点
08
MIPI D-PHY / C-PHY 测试
差分信号测试 · 时钟恢复 · 低功耗模式
MIPID-PHY
09
DDR5/LPDDR5 内存接口测试
训练序列 · 抖动容限 · 数据眼图
DDR5/LPDDR5内存接口测试
10
Ethernet 10G/25G/100G 测试
PAM4 · FEC · 链路分段测试
EthernetG/25G/100G
11
SerDes 测试基础
发送端抖动 · 接收端灵敏度 · 环回测试
SerDes测试基础
12
抖动与眼图分析
RJ · DJ · Tj测量方法
抖动眼图分析
13
误码率测试
BER浴盆曲线 · 加速测试方法 · 置信度计算
误码率测试BER
14
测试向量生成
STIL · WGL · VCD等格式
测试向量生成STIL
15
测试程序开发实战
基于ATE的脚本开发 · 调试与优化技巧
测试程序开发实战ATE
16
测试覆盖率分析
SCAN覆盖率 · MBIST覆盖率 · DFT对Yield的影响
测试覆盖率分析SCAN
17
良率模型
Poisson模型 · 负二项模型 · 聚类模型及其拟合方法
良率模型Poisson
18
缺陷定位与失效分析
E-beam · FIB · OBIRCH等技术的应用
缺陷定位失效分析
19
良率爬坡策略
鱼骨图 · DOE实验设计 · 根本原因分析
良率爬坡策略鱼骨图
20
数据采集与分析工具
YieldHub · Spotfire · JMP的实战使用
数据采集分析工具
21
统计过程控制
SPC控制图 · CPK/PPK在量产中的监控应用
统计过程控制SPC
22
测试时间优化
并行测试 · 多site同步 · 向量效率提升
测试时间优化并行测试
23
多site并行测试
site差异校准 · 去嵌入技术 · 均衡负载
site并行测试
24
温度与电压测试
温度循环 · 电压标定 · 最坏条件筛选
温度电压测试
25
高速接口的DFT设计
Loopback · BIST · I/O测试结构
DFT高速接口的
26
边界扫描测试
JTAG标准 · BSDL文件 · 互连测试
边界扫描测试JTAG
27
系统级测试SLT与量产测试
SLT的角色 · 与ATE测试的衔接
SLT系统级测试
28
案例分析
某SoC PCIe量产Yield从6…
案例分析SoC
29
案例分析
USB接口测试中眼图闭合问题的分析与…
案例分析USB
30
总结与未来趋势
Chiplet · 先进封装对测试的挑战 · AI在测试中应用
未来趋势Chiplet