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ATE序列编程自动化测试教程

共计 30 章节

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ATE测试概述

自动测试设备的概念 · 发展历史 · 应用领域

ATE测试概述

ATE系统组成

测试头 · 探针台 · 分选机

ATE系统组成

测试程序开发环境

常见ATE平台（Teradyne · Advantest · Verigy）及开发工具介绍

测试程序开发环境ATE

测试程序语言基础

STIL · WGL · PCL等语言的特点与选择

测试程序语言基础STIL

测试向量的基本结构 · 数据类型与格式

周期 · 格式 · 边沿控制等关键参数

时序设定周期

VIH/VIL/VOH/VOL等参数…

电平设定VIH/VIL/VOH/…

测试序列控制

顺序执行 · 跳转 · 循环

测试序列控制顺序执行

测试流程设计

Test flow概念 · Pass/Fail分支逻辑

测试流程设计Test

漏电流 · 电源电流测试方法与实现

逻辑功能测试的基本原理与常见模式

功能测试逻辑功能测试的基…

延迟 · 斜率 · 输出阻抗等参数的测量

参数测试延迟

故障模型与测试覆盖率

固定故障 · 延迟故障等模型讲解

故障模型测试覆盖率

测试数据管理与日志

结果记录格式 · 数据导出与解析

测试数据管理日志

使用波形查看 · 断点 · 单步执行等调试手段

调试技巧使用波形查看

Pattern生成自动化

使用脚本（Python/Perl）批…

Pattern生成自动化

Python与ATE集成

通过Python控制ATE进行测试执…

自动化测试框架设计

分层架构 · 模块化 · 可复用性

自动化测试框架设…分层架构

测试序列优化

减少测试时间 · 并行测试策略

测试序列优化减少测试时间

多站点测试

同时测试多个芯片的同步与冲突管理

多站点测试同时测试多个芯片…

测试程序版本控制

使用Git等工具管理测试代码

测试程序版本控制Git

测试结果分析

统计分析 · 良率计算与图表展示

测试结果分析统计分析

边界扫描测试

JTAG协议在ATE中的应用实践

边界扫描测试JTAG

存储器测试

MBIST · 算法模式（March · Checkerboard）的实现

存储器测试MBIST

混合信号测试

ADC/DAC测试基础参数与流程

混合信号测试ADC/DAC

射频参数测试（功率 · 频率 · 相位噪声）简介

ATE与DFT配合

Design for Test接口（… · BIST）的使用

某芯片ATE测试程序开发全流程演示

实际案例ATE

常见问题与避坑

硬件损坏 · 时序冲突 · 电平异常等故障排除

常见问题避坑

AI在ATE中的应用 · 云测试与大数据分析