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ATE测试中的GTY参数校准技巧

共计 30 章节
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01
GTY高速收发器概述
技术背景 · 架构特点与ATE测试中的角色定位
GTY高速收发器概述
02
校准的重要性
为什么GTY参数需要校准——从设计裕…
校准的重要性GTY
03
关键校准参数全景图
TX幅度 · TX预加重 · RX CTLE
关键校准参数全景…TX
04
ATE测试环境搭建
高速测试板 · 探针卡 · 参考时钟源与射频线缆选择
ATE测试环境搭建
05
参考时钟校准
PLL锁定范围 · 频率精度测量与ATE时钟补偿方法
参考时钟校准PLL
06
TX幅度校准
目标幅度设定 · 实测编码值与线性度修正
TX幅度校准
07
TX预加重/去加重校准
前馈均衡器(FIR)系数扫描与眼图张…
TX预加重
08
RX CTLE校准
连续时间线性均衡器的增益档位选择与频…
RXCTLE
09
RX DFE校准
判决反馈均衡器抽头系数自适应训练与固…
RXDFE
10
RX采样相位校准
CDR锁定过程与相位插值器(Phas…
RX采样相位校准
11
眼图测量与模板测试
内置眼图监视器(EB)与外接示波器对…
眼图测量模板测试
12
抖动分离与校准
随机抖动(RJ) · 确定性抖动(DJ)在ATE上的精确分…
抖动分离校准
13
PRBS码型生成与检测
常用码型(PRBS7/15/31)在…
PRBS码型生成
14
误码率(BER)浴盆曲线测试
从快速BER扫描到Link Marg…
BER误码率
15
片上温度传感器校准
温度对VCO · 驱动器的漂移影响及补偿策略
片上温度传感器校…VCO
16
电源电压校准
核心电压 · IO电压波动对GTY参数的影响与在线…
电源电压校准核心电压
17
Golden Device（标准芯片）的获取与标定
如何建立可追溯的校准基准
GoldenDevice
18
ATE自动化测试流程
V93K/J750/UltraFle…
ATE自动化测试流程
19
测试限的设置方法
规格下限/上限 · Guard Band计算与统计CPK…
测试限的设置方法规格下限
20
多通道一致性校准
同一die内多GTY通道参数匹配与交…
多通道一致性校准die
21
ATE硬宏参数的读写
通过DRP(MicroBlaze或J… · TXRATE等
ATE硬宏参数的读写
22
调试与数据回读
ATE日志分析 · 参数曲线拟合与异常值快速定位
调试数据回读
23
硅后验证中的校准覆盖
DFT设计不足时的补救测量与Corn…
硅后验证校准覆盖
24
信号完整性影响校准
PCB走线损耗 · 连接器回损对校准结果的实际干扰
信号完整性影响校…PCB
25
去嵌入技术
S参数测量与ATE夹具去嵌入后的GT…
去嵌入技术ATE
26
校准结果的验证方法
环回(LOOPBACK) · 外部端接测试与系统级联测试
校准结果的验证方…LOOPBACK
27
误码率与校准参数的关系模型
经验公式与机器学习辅助优化
误码率校准参数的关系模…
28
失效分析与复现
低良率批次的问题定位——校准参数统计…
失效分析复现
29
校准流程的优化
减少测试时间 · 提高吞吐量的算法级改进（快速收敛法）
校准流程的优化减少测试时间
30
未来趋势
自适应校准 · 片内BIST与AI辅助TPM（Tes…
未来趋势自适应校准