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UFS量产测试方案与ATE测试实战

共计 30 章节
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01
UFS存储技术概述
UFS协议演进 · UFS与eMMC对比 · UFS在移动终端及汽车领域的应用
UFS存储技术概述
02
量产测试基本概念
什么是量产测试 · 良率 · DPAT
量产测试基本概念什么是量产测试
03
ATE测试系统基础
ATE硬件结构（DPS · 通道板 · PMU）
ATE测试系统基础
04
UFS芯片测试需求分析
UFS接口电气特性 · 功耗目标 · 温度范围
UFS芯片测试需求分析
05
测试方案总体设计
从芯片规格到测试策略的转化 · 测试项目优先级划分 · 测试时间预算
测试方案总体设计从芯片规格到测试…
06
DC测试与开短路测试
接触电阻 · 漏电流 · 电源电流（IDD）
DC测试
07
AC时序测试
UFS接口信号时序参数（setup/… · 眼图 · 抖动）
AC时序测试
08
UFS协议层测试入门
UFS命令集 · 描述符 · 属性
UFS协议层测试入门
09
读写功能测试
单块读写 · 多块读写 · 擦除操作
读写功能测试单块读写
10
ECC纠错测试
BCH/LDPC纠错能力验证 · 注入错误数据后检查ECC校验结果 · ATE测试向量编写
ECC纠错测试
11
坏块管理测试
坏块扫描 · 坏块表更新 · 坏块替换机制在量产测试中的验证
坏块管理测试坏块扫描
12
Power Mode切换测试
UFS Active/Sleep/D… · ATE控制电压与时钟
PowerMode
13
温度测试与Trim
高低温下UFS参数漂移 · Trim码烧写与验证 · ATE温箱控制流程
Trim温度测试
14
Retry与Link启动测试
UFS链路层训练 · 重传机制测试 · 模拟Host Reset场景
RetryLink
15
ATE测试程序开发框架
Teradyne IG-XL或Adv… · 测试流程模块化设计
ATE测试程序开发框架
16
测试向量生成实战
基于DVT（Design Verif… · Pattern文件格式（WGL/ST… · ATE加载与运行
测试向量生成实战DVT
17
Datalog与良率分析
ATE Datalog格式解析 · Yield Dashboard搭建 · 用数据分析定位测试失效
Datalog良率分析
18
CP测试与FT测试分工
晶圆级测试（CP）与封装级测试（FT… · 测试项分配策略
CPFT
19
Multisite测试优化
并行测试原理 · Site to Site偏差校准 · 增加测试站数对良率和测试时间的影响
Multisite测试优化
20
测试时间缩减技巧
压缩Pattern · 优化Search算法 · 合并测试项
测试时间缩减技巧Pattern
21
量产测试程序Release流程
版本管理 · Qualification测试 · Golden Device验证
Release量产测试程序
22
ATE硬件调试与维护
负载板（Load Board）设计要… · 通道失效排查 · 校准板使用
ATE硬件调试
23
常见测试失效模式分析
接触不良 · 过驱不足 · 信号干扰
常见测试失效模式…接触不良
24
系统级测试（SLT）简介
UFS封装后系统板测试 · 与ATE测试的区别 · 补充覆盖
SLT系统级测试
25
量产测试数据管理系统
SECS/GEM接口 · MES对接 · 实时监控面板搭建
量产测试数据管理…SECS/GEM
26
车规级UFS测试要求
AEC-Q100测试项（温度循环 · 老化 · ESD）
UFS车规级
27
测试成本控制
良率提升 · 测试时间 · 治具耗材
测试成本控制良率提升
28
ATE测试新趋势
AI辅助测试（自适应测试边界） · 大数据驱动良率预测 · 云端测试
ATE测试新趋势
29
案例实战一
某型号UFS CP测试程序从开发到量…
案例实战一UFS
30
案例实战二
FT测试中一道低良率问题排查——从D…
案例实战二FT